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    Wafer Fab Automation, an Integral Part of the CAM Environment
    Fiorletta, CA ; Lennard, R ; et al.
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 653-661
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Computer Integrated Manufacturing: The Realities and Hidden Costs of Automation
    Ligeti, MS ; Gupta, DC
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 662-672
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Industry Considerations in Determining Equipment Reliability
    Greiner, JC ; Gupta, DC
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 673-679
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Test Method for Colorfastness to Solvent Spotting
    2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Application of Quantox Measurements to Identify Phosphorus Contamination in Silicon Wafers
    Dexter, MA ; Hasslinger, KM ; et al.
    In: Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification, Jg. 2000 (2000), Heft 1382, S. 91-101
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Survey of the Thermal Resistivity of Rigid Cellular Polystyrene Insulation
    Zimmermann, Eugene ; Bergstrom, Todd ; et al.
    In: Performance, Properties, and Resiliency of Thermal Insulations, Jg. 2021 (2021-09-01), Heft 1629, S. 1-16
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Performance of Molded Expanded Polystyrene (EPS) Thermal Insulation in Below-Grade Applications
    Whalen, J ; Desjarlais, AO ; et al.
    In: Insulation Materials: Testing and Applications: 4th Volume, Jg. 2002 (2002), Heft 1426, S. 366-378
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Asbestos Penetration Test System for Clothing Materials
    Bradley, OD ; Stampfer, JF ; et al.
    In: Performance of Protective Clothing: Sixth Volume, Jg. 1997 (1997), Heft 1273, S. 26-36
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Identifying Gettered Impurities in Silicon by LIMA Analysis
    Arst, MC ; Gupta, DC
    In: Emerging Semiconductor Technology, Jg. 1987 (1987), Heft 960, S. 324-335
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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