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  1. Silva, F. J. G. ; Campilho, R. D. S. G. ; et al.
    In: Journal of Testing and Evaluation, Jg. 50 (2022-09-01), Heft 5, S. 2295-2309
    academicJournal
  2. 2021
    Buch
  3. 2018
    Buch
  4. 2016
    Buch
  5. 2009
    Buch
  6. Farrell, K ; Byun, TS ; et al.
    In: Small Specimen Test Techniques: Fourth Volume, Jg. 2002 (2002), Heft 1418, S. 283-293
    academicJournal
  7. 2000
    Buch
  8. 2000
    Buch
  9. 2004
    Buch
  10. 2000
    Buch
  11. 2024
    Buch
  12. 2024
    Buch
  13. 2024
    Buch
  14. 2023
    Buch
  15. 2023
    Buch
  16. Severin, P. J. ; Ehrstein, James R.
    In: Semiconductor Measurement Technology: Spreading Resistance Symposium, Jg. 1974 (1974), Heft 572, S. 99-108
    academicJournal
  17. 2023
    Buch
  18. 2023
    Buch
  19. 2023
    Buch
  20. Darrone, DW ; Liptai, RG ; et al.
    In: Metrication—Managing the Industrial Transition, Jg. 1975 (1975), Heft 574, S. 140-153
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
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