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    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part I: Model Formulation.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 226-232
    Online academicJournal
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    Frequency-Response-Oriented Design and Optimization of N+ Diffusion Guard Ring in Lightly Doped CMOS Substrate.
    Zhang, Le ; Li, Er-Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-01), Heft 2, S. 481-487
    Online academicJournal
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    Efficient Jitter Analysis for a Chain of CMOS Inverters.
    Tripathi, Jai Narayan ; Arora, Puneet ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-02-01), Heft 1, S. 229-239
    Online academicJournal
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    A Multiresolution Time Domain (MRTD) Method for Crosstalk Noise Modeling of CMOS-Gate-Driven Coupled MWCNT Interconnects.
    Rebelli, Shashank ; Nistala, Bheema Rao
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-04-01), Heft 2, S. 521-531
    Online academicJournal
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    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part II: Modeling Examples.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 233-241
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Modeling and Design of EMI-Immune OpAmps in 0.18-$\mu$ m CMOS Technology.
    Boyapati, Subrahmanyam ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-10-01), Heft 5, S. 1609-1616
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    EMI Susceptibility of a Digitally Based Analog Amplifier in a 180-nm CMOS Process.
    Coccoli, Alberto ; Richelli, Anna ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-08-01), Heft 4, S. 1236-1239
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS.
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), Heft 6, S. 2049-2051
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Bulk-Driven CMOS Amplifier With High EMI Immunity.
    Li, Hong Ge ; Bai, Hui Xin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-12-01), Heft 6, S. 1425-1434
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS-Based Chaotic PWM Generator for EMI Reduction.
    Li, Hong Ge ; Gong, Si Di ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-08-01), Heft 4, S. 1224-1231
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Propagation Delay-Based Expression of Power Supply-Induced Jitter Sensitivity for CMOS Buffer Chain.
    Wang, Xin Jie ; Kwasniewski, Tad
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-04-01), Heft 2, S. 627-630
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An Accurate FDTD Model for Crosstalk Analysis of CMOS-Gate-Driven Coupled RLC Interconnects.
    Kumar, Vobulapuram Ramesh ; Kaushik, Brajesh Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-10-01), Heft 5, S. 1185-1193
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    An Integrated LVDS Transmitter in 0.18-$\mu$ m CMOS Technology With High Immunity to EMI.
    Matig-a, Gilbert Andrew ; Yuce, Mehmet Rasit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-02-01), Heft 1, S. 128-134
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    On the Robustness of CMOS-Chopped Operational Amplifiers to Conducted Electromagnetic Interferences.
    Lavarda, Andrea ; Petruzzi, Luca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 60 (2018-04-01), Heft 2, S. 478-486
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation.
    Park, Myunghwan ; Rodgers, John C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-06-01), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modeling Static Delay Variations in Push–Pull CMOS Digital Logic Circuits Due to Electrical Disturbances in the Power Supply.
    Gao, Xu ; Sui, Chunchun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-10-01), Heft 5, S. 1179-1187
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Modeling and Optimization of Substrate Electromagnetic Coupling and Isolation in Modern Lightly Doped CMOS Substrate.
    Zhang, Le ; Li, Er-Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-15), Heft 2, Part 2, S. 662-669
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference.
    Fiori, Franco
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-05-01), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference.
    Kim, Kyechong ; Iliadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-11-01), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
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    Impact of Microwave Interference on Dynamic Operation and Power Dissipation of CMOS Inverters.;.
    Kim, Kyechong ; liadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-05-01), Heft 2, S. 329-338
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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