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    A Ka -Band SATCOM Transceiver in 65-nm CMOS With High-Linearity TX and Dual-Channel Wide-Dynamic-Range RX for Terrestrial Terminal.
    Wang, Yun ; You, Dongwon ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-02-01), Heft 2, S. 356-370
    Online academicJournal
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    A broad education.
    Duane, Michael ; Buc, Steven M. ; et al.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 32 (1995-12-01), S. 6-6
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A 256-Element Ku-Band Polarization Agile SATCOM Transmit Phased Array With Wide-Scan Angles, Low Cross Polarization, Deep Nulls, and 36.5-dBW EIRP per Polarization.
    Aljuhani, Abdurrahman H. ; Kanar, Tumay ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 69 (2021-05-01), Heft 5, S. 2594-2608
    Online academicJournal
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    RPE-TCAM: Reconfigurable Power-Efficient Ternary Content-Addressable Memory on FPGAs.
    Irfan, Muhammad ; Ullah, Zahid ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 28 (2020-08-01), Heft 8, S. 1925-1929
    Online academicJournal
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    Unmatched Preconditioning of the Proximal Gradient Algorithm.
    Savanier, Marion ; Chouzenoux, Emilie ; et al.
    In: IEEE Signal Processing Letters, Jg. 29 (2022-05-01), S. 1122-1126
    Online academicJournal
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation.
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 958-969
    Online academicJournal
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    Analysis of SET Propagation in a System in Package Point of Load Converter.
    Rajkowski, T. ; Saigne, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1494-1502
    Online academicJournal
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    Analysis of Single-Event Effects in DDR3 and DDR3L SDRAMs Using Laser Testing and Monte-Carlo Simulations.
    Kohler, P. ; Pouget, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 262-268
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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