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    CMOS design of a capacitively isolated AC switch driver for auto-turning frequency.
    Zhang, M ; Llaser, N
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 34 (2023-11-01), Heft 11, S. 1-12
    academicJournal
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    Realization of wafer-scale single-crystalline GaN film on CMOS-compatible Si(100) substrate by ion-cutting technique.
    Shi, Hangning ; Huang, Kai ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 35 (2020-12-01), Heft 12, S. 1-8
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Review--System-on-Chip SMO Gas Sensor Integration in Advanced CMOS Technology.
    Filipovic, Lado ; Lahlalia, Ayoub
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 165 (2018-12-15), Heft 16, S. B862- (18S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS-based neuromorphic device for seizure detection from LFP signals.
    Ronchini, Margherita ; Zamani, Milad ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 55 (2022), Heft 1, S. 1-14
    academicJournal
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    Active tunable THz metamaterial array implemented in CMOS technology.
    Liu, Yongshan ; Sun, Tong ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 54 (2021-02-25), Heft 8, S. 1-11
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Strain effect on performance of multi-stacked gate-all-around CMOS inverters.
    Kim, Kihwan ; Lee, Ji Hwan ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 35 (2020-12-01), Heft 12, S. 1-6
    Online academicJournal
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    CMOS charge qubits and qudits: entanglement entropy and mutual information as an optimization method to construct CNOT and SWAP Gates.
    Giounanlis, Panagiotis ; Wu, Xutong ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 36 (2021-09-01), Heft 9, S. 1-15
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    A latch-up-free LVTSCR with improved overshoot characteristic for ESD protection in 40 nm CMOS process.
    Chen, Rui-Bo ; Liu, Hong-Xia ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 36 (2021-06-01), Heft 6, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Robust semiconductor-on-ferroelectric structures with hafnia–zirconia–alumina UTBOX stacks compatible with CMOS technology.
    Popov, V P ; Antonov, V A ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 54 (2021-06-03), Heft 22, S. 1-8
    academicJournal
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    Pulse quenching based radiation-hardened by design technique for analog single-event transient mitigation on an operational amplifier in 28 nm bulk CMOS process.
    Liu, Jingtian ; Xu, Xinyu ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 35 (2020-07-01), Heft 7, S. 1-8
    Online academicJournal
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    Design and verification of novel silicon-controlled-rectifier-memristor based on standard CMOS process.
    Wang, Yang ; Cao, Shengguo ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 36 (2021), Heft 1, S. 1-6
    Online academicJournal
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    Recent advance in high manufacturing readiness level and high temperature CMOS mixed-signal integrated circuits on silicon carbide.
    M H Weng ; D T Clark ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 32 (2017-05-01), Heft 5, S. 1-1
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Efficient premature edge breakdown prevention in SiAPD fabrication using the standard CMOS process.
    Kamrani, Ehsan ; Lesage, Frederic ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 28 (2013-04-01), Heft 4, S. 1-6
    Online academicJournal
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    Silicon spin qubits from laboratory to industry.
    De Michielis, Marco ; Ferraro, Elena ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 56 (2023-09-07), Heft 36, S. 1-26
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A replacement of high-k process for CMOS transistor by atomic layer deposition.
    Han, Jin-Woo ; Byung Joon Choi ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 28 (2013-08-01), Heft 8, S. 1-4
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design and modeling of the electrostatically controlled nanowire FET for ppt-level hydrogen sensing.
    Mutsafi, Zoe ; Shimanovich, Klimentiy ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 57 (2024-01-12), Heft 2, S. 1-9
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Use of carbon micro-particles for improved infrared temperature measurement of CMOS MEMS devices.
    Hopper, Richard H. ; Haneef, Ibraheem ; et al.
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 21 (2010-04-01), Heft 4, S. 45107-1- (6S.)
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Monolithic CMOS-compatible AlGaInP visible LED arrays on silicon on lattice-engineered substrates (SOLES)
    Chilukuri, Kamesh ; Mori, Michael J. ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 22 (2007-02-01), Heft 2, S. 29-34
    Online academicJournal
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    Hot-carrier-related device reliability for digital and analogue CMOS circuits.
    Weber, W. ; Thewes, R.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 10 (1995-11-01), S. 1432-1443
    Online academicJournal
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    A low-cost high-speed CMOS camera for scientific imaging.
    Daniel J Duke ; Knast, Thomas ; et al.
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 30 (2019-07-01), Heft 7, S. 1-1
    academicJournal
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xs 0 - 576
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md 768 - 992
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xl 1200 - 1366
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