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    Fault Detection and Fault Diagnosis Techniques for Lookup Table FPGAs.
    Lu, Shyue-Kung ; Yeh, Fu-Min ; et al.
    In: VLSI Design, Jg. 15 (2002-09-01), Heft 1, S. 397-406
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    디지털 능동배열레이다의 빔형성을위한고정소수점기반빔형성계수 연산기 설계 및성능분석. (Korean)
    양태원 ; 배찬희 ; et al.
    In: Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering & Science / Han-Guk Jeonjapa Hakoe Nonmunji, Jg. 34 (2023-12-01), Heft 12, S. 918-926
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    FPGA friendly NoC simulation acceleration framework employing the hard blocks.
    Prasad, B. M. Prabhu ; Parane, Khyamling ; et al.
    In: Computing, Jg. 103 (2021-08-01), Heft 8, S. 1791-1813
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Aging Resilience and Fault Tolerance in Runtime Reconfigurable Architectures.
    Zhang, Hongyan ; Bauer, Lars ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 66 (2017-06-01), Heft 6, S. 957-970
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    AREA-ORIENTED TECHNOLOGY MAPPING FOR LUT-BASED LOGIC BLOCKS.
    KUBICA, MARCIN ; KANIA, DARIUSZ
    In: International Journal of Applied Mathematics & Computer Science, Jg. 27 (2017), Heft 1, S. 207-222
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    TuneFPGA: Post-Silicon Tuning of Dual-Vdd FPGAs.
    Bijansky, Stephen ; Aziz, Adnan
    In: DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference, 2008-02-01, S. 796-799
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Built‐in‐self‐test technique for diagnosis of delay faults in cluster‐based field programmable gate arrays.
    Das, Nachiketa ; Roy, Pranab ; et al.
    In: IET Computers & Digital Techniques (Wiley-Blackwell), Jg. 7 (2013-09-01), Heft 5, S. 210-220
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A bitstream readback-based automatic functional test and diagnosis method for Xilinx FPGAs.
    Ruan, Aiwu ; Jie, Bairui ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014-08-01), Heft 8, S. 1627-1635
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Complete hardware evolution based SoPC for evolvable hardware.
    Swarnalatha, A. ; Shanthi, A.P.
    In: Applied Soft Computing, Jg. 18 (2014-05-01), S. 314-322
    academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Optimization of single variable functions using complete hardware evolution
    Swarnalatha, A. ; Shanthi, A.P.
    In: Applied Soft Computing, Jg. 12 (2012-04-01), Heft 4, S. 1322-1329
    academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Grayscale image formats for edge detection and for its FPGA implementation.
    Hagara, Miroslav ; Stojanović, Radovan ; et al.
    In: Microprocessors & Microsystems, Jg. 75 (2020-06-01), S. N.PAG
    academicJournal
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