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In: Proceedings of the 2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS ; IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures ; https://hal.science/hal-00126801 ; IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, Mar 2006, Austin, TX, United States. pp.65-70, ⟨10.1109/ICMTS.2006.1614277⟩, 2006KonferenzZugriff:
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