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    Uniform Performance of AM-OLED Pixels p-type Circuits Using as-deposited Polysilicon TFTs
    Gaillard, Arc'Hanmael ; Mohammed-Brahim, Tayeb ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00848007 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan. pp.303-306, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of the use of the second harmonic CW Nd:YVO4 laser to crystallize amorphous silicon films on the TFT performance
    Saboundji, Amar ; Michaud, Jean-François ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00870772 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Uniform Performance of AM-OLED Pixels p-type Circuits Using as-deposited Polysilicon TFTs
    Gaillard, Arc'Hanmael ; Mohammed-Brahim, Tayeb ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00848007 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan. pp.303-306, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of the use of the second harmonic CW Nd:YVO4 laser to crystallize amorphous silicon films on the TFT performance
    Saboundji, Amar ; Michaud, Jean-François ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00870772 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of the use of the second harmonic CW Nd:YVO4 laser to crystallize amorphous silicon films on the TFT performance
    Saboundji, Amar ; Michaud, Jean-François ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00870772 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Uniform Performance of AM-OLED Pixels p-type Circuits Using as-deposited Polysilicon TFTs
    Gaillard, Arc'Hanmael ; Mohammed-Brahim, Tayeb ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00848007 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan. pp.303-306, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of the use of the second harmonic CW Nd:YVO4 laser to crystallize amorphous silicon films on the TFT performance
    Saboundji, Amar ; Michaud, Jean-François ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.science/hal-00870772 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Uniform Performance of AM-OLED Pixels p-type Circuits Using as-deposited Polysilicon TFTs
    Gaillard, Arc'Hanmael ; Mohammed-Brahim, Tayeb ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00848007 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan. pp.303-306, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of the use of the second harmonic CW Nd:YVO4 laser to crystallize amorphous silicon films on the TFT performance
    Saboundji, Amar ; Michaud, Jean-François ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00870772 ; Proceedings of International Conference on AM-LCD 2004, Aug 2004, Tokyo, Japan, 2004
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Caracterisation of Shock wave and spallation induced by ultra-short laser new perspectives par LASer Adhesion Test (LASAT)
    Berthe, L. ; Nivard, M. ; et al.
    In: Proceedings ; The International Congress on Laser Advanced Materials Processing (LAMP) ; https://hal.science/hal-00469628 ; The International Congress on Laser Advanced Materials Processing (LAMP), 2009, KOBE, Japan. pp, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.science/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.
    Ghibaudo, G. ; Mouis, M. ; et al.
    In: International Workshop on Junction Technology (IWJT2009) ; to be published, IEEE Conference Proceedings (2009) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603879 ; to be published, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Laser-driven shocks to study phase transformations in materials of geophysical interest
    de Resseguier, T. ; Hallouin, M. ; et al.
    In: workshop ; Japan-France joint workshop on High Energy Density Science ; https://hal.science/hal-00470310 ; Japan-France joint workshop on High Energy Density Science, Oct 2008, Tokyo, 2008
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Laser-driven shocks to study phase transformations in materials of geophysical interest
    de Resseguier, T. ; Hallouin, M. ; et al.
    In: workshop ; Japan-France joint workshop on High Energy Density Science ; https://hal.science/hal-00470310 ; Japan-France joint workshop on High Energy Density Science, Oct 2008, Tokyo, 2008
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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