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192 Treffer

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    Power Performance Analysis of Digital Standard Cells for 28 nm Bulk CMOS at Cryogenic Temperature Using BSIM Models
    Saligram, Rakshith ; Chakraborty, Wriddhi ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Design of an Inverter-Based OTA Based on a 130 nm CMOS Process ; Proyecto de OTA Basado en Inversores en Procesos CMOS de 130 nm ; Projeto de um OTA Baseado em Inversores em Processo CMOS de 130 nm
    Silva, Otávio Soares ; Braga, Rodrigo Aparecido da Silva ; et al.
    In: Research, Society and Development; Vol. 9 No. 6; e51963334 ; Research, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A 0.026 mm2 Time Domain CMOS Temperature Sensor with Simple Current Source
    Park, Sangwoo ; Byun, Sangjin
    In: Micromachines; Volume 11; Issue 10; Pages: 899, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A 0.026 mm 2 Time Domain CMOS Temperature Sensor with Simple Current Source
    Park, Sangwoo ; Byun, Sangjin
    In: Micromachines, Vol 11, Iss 899, p 899 (2020, 2020
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Cryo-CMOS SAR ADC With FIA Sampling Driver Enabled by Cryogenic-Aware Back-Biasing
    Kiene, G. (author) ; Overwater, R.W.J. (author) ; et al.
    2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Integrated Digital and Analog Circuit Blocks in a Scalable Silicon Carbide CMOS Technology
    Romijn, J. ; Vollebregt, S. ; et al.
    2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The impact transconductance parameter and threshold voltage of MOSFET’s in static characteristics of CMOS inverter
    Zabeli, Milaim ; Caka, Nebi ; et al.
    In: Natural and Engineering Sciences, 2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Flexible setup for the measurement of CMOS time-dependent variability with array-based integrated circuits
    Nafría i Maqueda, Montserrat ; Martin Martinez, Javier ; et al.
    2020
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Impact of Channel Implantation on a 4H-SiC CMOS Operational Amplifier for High Temperature Applications
    Albrecht, M. ; Perez, D. ; et al.
    2020
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    38/60 GHz Dual-Frequency 3-Stage Transformer-Based Differential Inductor-Peaked Rectifier in 40-nm CMOS Technology
    Fang, Yun ; Hueber, Gernot ; et al.
    In: $2, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Pixel Level Characterization of Pinned Photodiode and Transfer Gate Physical Parameters in CMOS Image Sensors
    Goiffon, Vincent ; Estribeau, Magali ; et al.
    2014
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Projeto de um OTA Baseado em Inversores em Processo CMOS de 130 nm
    Silva, Otávio Soares ; Braga, Rodrigo Aparecido da Silva ; et al.
    In: Research, Society and Development, ISSN 2525-3409, Vol. 9, Nº. 6, 2020, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Influence of HALO and Source/Drain Implantation Variations on Threshold Voltage in 45nm CMOS Technology
    Salehuddin, F.
    In: International Journal of Electronics, Computer and Communications Technologies; Vol. 2 No. 3 (2012); 27-33, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Atomic Layer Deposition (ALD) of Metal Gates for CMOS
    Zhao, Chao ; Xiang, Jinjuan
    In: Applied Sciences; Volume 9; Issue 11; Pages: 2388, 2019
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Atomic Layer Deposition (ALD) of Metal Gates for CMOS
    Zhao, Chao ; Xiang, Jinjuan
    In: Applied Sciences, Vol 9, Iss 11, 2019
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Simulation of the Energy Efficiency Dependence on Threshold Voltage in the CMOS Inverter
    ARSENTEV, ALEKSEI ; PLOTNIKOVA, EKATERINA ; et al.
    In: DEStech Transactions on Environment, Energy and Earth Sciences; 2018 International Theoretical and Practical Conference on Alternative and Smart Energy (TPCASE 2018) ; 2475-8833, 2019
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Potential of 4H-SiC CMOS for high temperature applications using advanced lateral p-MOSFETs ; Potenzial von 4H-SiC CMOS für Hochtemperaturanwendungen mittels verbesserter lateraler p-MOSFETs
    Albrecht, Matthäus ; Erlbacher, Tobias ; et al.
    2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An All-Solution-Based Hybrid CMOS-Like Quantum Dot/Carbon Nanotube Inverter
    Shulga, Artem G. ; Derenskyi, Vladimir ; et al.
    In: $2, 2017
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    TID Effects in Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors Irradiated to Ultra-High Doses
    Bonaldo, S. ; Gorchichko, M. ; et al.
    2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Hot carrier injection and negative bias temperature instability induced NMOS and PMOS degradation on CMOS Ring Oscillator
    Lahbib, I. ; Doukkali, M.A. ; et al.
    In: 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) ; https://normandie-univ.hal.science/hal-02184712 ; 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2016, Tucson, United States. pp.7448024, ⟨10.1109/RAMS.2016.7448024⟩, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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