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  1. Cobb, Evan A. W. ; Petroccione, Maurice A. ; et al.
    In: Sci Rep, 2023
    academicJournal
  2. Cobb, Evan A. W. ; Petroccione, Maurice A. ; et al.
    In: Scientific Reports, 2023
    Online academicJournal
  3. Toews, Ingrid ; Meerpohl, Jörg J.
    2023
    report
  4. Xi, Mengfei ; Li, Jie ; et al.
    In: Remote Sensing, Vol 15, Iss 1, p 108 (2022, 2022
    Online academicJournal
  5. Xi, Mengfei ; Li, Jie ; et al.
    In: Remote Sensing; Volume 15; Issue 1; Pages: 108, 2022
    academicJournal
  6. Richter, Christa Maria
    2021
    Online Buch
  7. Beck, Monika ; Bunnen, Patrick van ; et al.
    2023
    Online Buch
  8. Miculka, Christian ; Poetting, Sierk
    2022
    report
  9. Gao, Zhan ; Meneghini, Matteo ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) ; https://hal.science/hal-03043453 ; 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2020, Singapour, Singapore. pp.1-6, ⟨10.1109/IPFA49335.2020.9260793⟩, 2020
    Online Konferenz
  10. Gao, Zhan ; Meneghini, Matteo ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) ; https://hal.science/hal-03043453 ; 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2020, Singapour, Singapore. pp.1-6, ⟨10.1109/IPFA49335.2020.9260793⟩, 2020
    Online Konferenz
  11. Gao, Zhan ; Meneghini, Matteo ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) ; https://hal.science/hal-03043453 ; 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2020, Singapour, Singapore. pp.1-6, ⟨10.1109/IPFA49335.2020.9260793⟩, 2020
    Online Konferenz
  12. Gao, Zhan ; Meneghini, Matteo ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03043453 ; 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2020, Singapour, Singapore. pp.1-6, ⟨10.1109/IPFA49335.2020.9260793⟩, 2020
    Online Konferenz
  13. In: Deutsches Ärzteblatt Online ; ISSN 2199-7292, 2021
    academicJournal
  14. In: Deutsches Ärzteblatt Online ; ISSN 2199-7292, 2021
    academicJournal
  15. In: Medizinrecht, 2020
    academicJournal
  16. Wei, Zhihua ; Chi, Pei-Ling ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs ; volume 70, issue 9, page 3353-3357 ; ISSN 1549-7747 1558-3791, 2023
    Online academicJournal
  17. In: Deutsches Ärzteblatt Online ; ISSN 2199-7292, 2023
    academicJournal
  18. In: Deutsches Ärzteblatt Online ; ISSN 2199-7292, 2019
    academicJournal
  19. In: Deutsches Ärzteblatt Online ; ISSN 2199-7292, 2017
    academicJournal
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