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    Investigation of Fabricated CMOS FishboneFETs and TreeFETs With Strained SiGe Nano-Fins on Bulk-Si Substrate
    Cao, Lei ; Zhang, Qingzhu ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 9, S. 1396-1399
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    Characterization of Noise in CMOS Ring Oscillators at Cryogenic Temperatures
    Mukim, Prashansa ; Shrestha, Pragya R. ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 9, S. 1547-1550
    Online serialPeriodical
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    CMOS-Compatible Titanium-Based Micro Supercapacitor With Outstanding Capacitance and Frequency Performances
    Li, Zhangshanhao ; Xu, Sixing ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 7, S. 1224-1227
    Online serialPeriodical
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    A Highly Linear Temperature Sensor Operating up to 600°C in a 4H-SiC CMOS Technology
    Mo, Jiarui ; Li, Jinglin ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 6, S. 995-998
    Online serialPeriodical
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    Double-Ring Shaded-Contact Photovoltaic Cell Designed on Standard CMOS Process
    Sugiura, Takaya ; Miura, Hiroki ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 6, S. 887-890
    Online serialPeriodical
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    CMOS Compatible Low Power Consumption Ferroelectric Synapse for Neuromorphic Computing
    Li, Zhenhai ; Meng, Jialin ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 3, S. 532-535
    Online serialPeriodical
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    Defect Passivation and Reliability Enhancement by Low-Temperature-High-Pressure Hydrogenation in LDMOS With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology
    Hung, Wei-Chieh ; Hung, Wei-Chun ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2023), Heft 5, S. 789-792
    Online serialPeriodical
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    Integrated 4H-SiC Photosensors With Active Pixel Sensor-Type Circuits for MGy-Class Radiation Hardened CMOS UV Image Sensor
    Tsutsumi, Masayuki ; Meguro, Tatsuya ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2022), Heft 1, S. 100-103
    Online serialPeriodical
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    Non-Volatile Nano-Electro-Mechanical Switches and Hybrid Circuits in a 16 nm CMOS Back-End-of-Line Process
    Sikder, Urmita ; Naous, Rawan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 44 (2022), Heft 1, S. 136-139
    Online serialPeriodical
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    Optimization of Photodiode Design Through Analysis of Full-Well Capacity and Image Lag in 0.5 μ m CMOS Image Sensors With Vertical Transfer Gates
    Park, Jae Hyeon ; Suk, Chan Hee ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 10, S. 1697-1700
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    A Harmonic Radar Tag With High Detection Range Utilizing Ge FinFETs CMOS Technology
    Hsieh, Cheng-Hung ; Hong, Tzu-Chieh ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 11, S. 1798-1801
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Hybrid Pixels With Si Photodiode and 4H-SiC MOSFETs Using Direct Heterogeneous Bonding Toward Radiation Hardened CMOS Image Sensors
    Meguro, Tatsuya ; Takeyama, Akinori ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 10, S. 1713-1716
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    A GHz Operating CMOS Compatible ScAlN Based SAW Resonator Used for Surface Acoustic Waves/Spin Waves Coupling
    Zdru, I. ; Nastase, C. ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 9, S. 1551-1554
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Detection of DNA Hybridization Beyond the Debye Screening Length by CMOS Capacitive Sensors
    Lin, Chang-Hung ; Lee, Yuan-Chieh ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 8, S. 1319-1322
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Miniaturized On-Chip Notch Filter With Sharp Selectivity and >35-dB Attenuation in 0.13-μm Bulk CMOS Technology
    Chen, Lisheng ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 8, S. 1175-1178
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Detection of DNA Hybridization Beyond the Debye Screening Length by CMOS Capacitive Sensors
    Lin, Chang-Hung ; Lee, Yuan-Chieh ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 8, S. 1319-1322
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Phased Array Based on AlScN Piezoelectric Micromachined Ultrasound Transducers Monolithically Integrated on CMOS
    Zamora, I. ; Ledesma, E. ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 7, S. 1113-1116
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    CMOS Ternary Logic With a Biristor Threshold Switch for Low Static Power Consumption
    Han, Joon-Kyu ; Yu, Ji-Man ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 7, S. 1005-1008
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Performance Improvement for Ge FinFET CMOS Inverter With Supercritical Fluid Treatment
    Ruan, Dun-Bao ; Chang-Liao, Kuei-Shu ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 6, S. 838-841
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    Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology
    Hung, Wei-Chun ; Tu, Yu-Fa ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 43 (2022), Heft 5, S. 769-772
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