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    LEAKAGE CURRENT MEASUREMENTS OF STO AND BST THIN FILMS INTERPRETED BY THE 'DEAD' LAYER MODEL : Integrated ferroelectrics
    Schmitz, S. ; Schroeder, H.
    In: INTEGRATED FERROELECTRICS, Jg. S 46 (2002), S. 455-464
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALS OF STO DOPED WITH EUROPIUM: Sr1 - XEuxTiO3
    FAJARDO-PERALTA, A. ; ROMERO-VARGAS, F. N. ; et al.
    In: INTEGRATED FERROELECTRICS, Jg. 101 (2008), S. 114-120
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    EFFECT OF STO SEEDING ON PZT FILMS CRYSTALLIZATION
    DEFAY, E. ; WOLOZAN, D. ; et al.
    In: INTEGRATED FERROELECTRICS, Jg. 80 (2006), S. 115-124
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    LEAKAGE CURRENT MEASUREMENTS OF STO AND BST THIN FILMS INTERPRETED BY THE 'DEAD' LAYER MODEL
    Schmitz, S. ; Schroeder, H.
    In: INTEGRATED FERROELECTRICS, Jg. 46 (2002), S. 233-242
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -