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    Enhanced irradiance sensitivity of 4H-SiC based ultraviolet sensor introducing laterally gated Al/SiO2/SiC tunnel diode structure with low gate bias
    Chang, P. K. ; Hwu, J. G.
    In: Journal of applied physics, Jg. 124 (2018), Heft 2
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    pH dependence of synchrotron x-ray induced electroless nickel deposition
    Borse, P. H. ; Yi, J. M. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 95 (2004), Heft 3, S. 1166-1170
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    Synchrotron radiographic study and computer simulation of reactions between micropipes in silicon carbide
    Gutkin, M. Y. ; Sheinerman, A. G. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 94 (2003), Heft 11, S. 7076-7082
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    Thermal stress at wafer contact points in rapid thermal processing investigated by repeated spike treatment before oxidation
    Hong, C. C. ; Chang, C. Y. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 93 (2003), Heft 4, S. 2225-2228
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    Ramification of micropipes in SiC crystals
    Gutkin, M. Y. ; Sheinerman, A. G. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 92 (2002), Heft 2, S. 889-894
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    Enhanced thermally induced stress effect on an ultrathin gate oxide
    Su, J. L. ; Hong, C. C. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 91 (2002), Heft 8, S. 5423-5428
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    Microstructures of GaN islands on a stepped sapphire surface
    Kim, C. C. ; Je, J. H. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 91 (2002), Heft 7, S. 4233-4237
    Online serialPeriodical
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    Influence of neighboring coupling on metal-insulator-semiconductor (MIS) deep-depletion tunneling current via Schottky barrier height modulation mechanism
    Yang, Ming-Han ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: Journal of applied physics, Jg. 121 (2017), Heft 15
    Online serialPeriodical
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    Anomalous low-voltage tunneling current characteristics of ultrathin gate oxide (∼2 nm) after high-field stress
    Huang, C. H. ; Hwu, J. G.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 89 (2001), Heft 10, S. 5497-5501
    Online serialPeriodical
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    Stress effect on the kinetics of silicon thermal oxidation
    Yen, J. Y. ; Hwu, J. G.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 89 (2001), Heft 5, S. 3027-3032
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    Structural analysis of Sr~8Ga~1~6Ge~3~0 clathrate compound
    Schujman, S. B. ; Nolas, G. S. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 87 (2000), Heft 3, S. 1529-1533
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    Coherence-enhanced synchrotron radiology: Refraction versus diffraction mechanisms
    Hwu, Y. ; Hsieh, H. H. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 86 (1999), Heft 8, S. 4613-4618
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    Long-range order and short-range order study on CoCrPt/Ti films by synchrotron x-ray scattering and extended x-ray absorption fine structure spectroscopy
    Sun, C. J. ; Chow, G. M. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 91 (2002), Heft 10, S. 7182-7184
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    Magnetization-controlled spin transport in DyAs/GaAs layers
    Mao, J. M. ; Zudov, M. E. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 87 (2000), Heft 9, S. 5170-5172
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    Magnetic properties of DyAs and DyP (001) films
    Rush, E. ; Wu, L. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 85 (1999), Heft 8, S. 4970-4972
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Investigation on edge fringing effect and oxide thickness dependence of inversion current in metal-oxide-semiconductor tunneling diodes with comb-shaped electrodes
    Lin, Chien-Chih ; Hsu, Pei-Lun ; et al.
    In: Journal of applied physics, Jg. 115 (2014), Heft 12
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Half-metallic ferromagnetism with high magnetic moment and high Curie temperature in Co~2FeSi (3 pages) : Proceedings of the 50th Annual Conference on Magnetism & Magnetic Materials
    Wurmehl, S. ; Fecher, G. H. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 99 (2006), Heft 8, S. 08J103
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    Investigation on edge fringing effect and oxide thickness dependence of inversion current in metal-oxide-semiconductor tunneling diodes with comb-shaped electrodes (6 pages)
    Lin, C. C. ; Hsu, P. L. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 115 (2014), Heft 12, S. 124109-124109
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    Nitric acid compensated aluminum oxide dielectrics with improved negative bias reliability and positive bias temperature response (8 pages)
    Lin, C. C. ; Hwu, J. G.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 113 (2013), Heft 5, S. 054103-54103
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    Resolving the phase structure of nonstoichiometric Co~2FeGa Heusler nanoparticles (8 pages)
    Wang, C. ; Casper, F. ; et al.
    In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 112 (2012), Heft 12, S. 124314-124314
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