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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 12, S. 1455-1464KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 12, S. 1417-1423KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 9/11, S. 1107-1114KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 9/11, S. 1048-1051KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 9/11, S. 977-981KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 6, S. 650-659KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1576-1580KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1581-1585KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1403-1411KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1139-1143KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1375-1383KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 48 (2008), Heft 8/9, S. 1333-1338KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 9-11, S. 1550-1554KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 9-11, S. 1502-1505KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 9-11, S. 1444-1449KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 9-11, S. 1322-1329KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 9-11, S. 1313-1321KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 4-5, S. 739-742KonferenzZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 4-5, S. 521-524KonferenzZugriff: