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In: Proceedings, Jg. 43 (2017), S. 411-415KonferenzZugriff:
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In: Proceedings, Jg. 43 (2017), S. 88-94KonferenzZugriff:
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In: Proceedings / International Symposium for Testing and Failure Analysis, Jg. 42 (2016), S. 547-554KonferenzZugriff:
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In: Proceedings / International Symposium for Testing and Failure Analysis, Jg. 42 (2016), S. 197-203KonferenzZugriff:
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In: Proceedings / International Symposium for Testing and Failure Analysis, Jg. 42 (2016), S. 118-124KonferenzZugriff:
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In: Proceedings / International Symposium for Testing and Failure Analysis, Jg. 42 (2016), S. 68-75KonferenzZugriff:
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In: Proceedings / International Symposium for Testing and Failure Analysis, Jg. 40 (2014), S. 205-209KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2008, S. 499-504KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2008, S. 505-509KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2008, S. 349-353KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2003, S. 99-104KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2003, S. 40-44KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2002, S. 771-776KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2002, S. 387-390KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2002, S. 317-324KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2002, S. 169-172KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2001, S. 373-380KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2001, S. 305-312KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2001, S. 237-242KonferenzZugriff:
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In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS, 2001, S. 109-114KonferenzZugriff: