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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    InnoLux v AU Optronics: comparing territorial limits to EU and US public enforcement of the LCD cartel
    Huizing, Pieter J F
    In: Journal of antitrust enforcement, Jg. 6 (2018), Heft 2, S. 231-260
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    InnoLux v AU Optronics: comparing territorial limits to EU and US public enforcement of the LCD cartel
    Huizing, Pieter J F
    In: Journal of antitrust enforcement, Jg. 6 (2018), Heft 2, S. 231-260
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Shortened menstrual cycles in LCD manufacturing workers
    Lin, C. C. ; Huang, C. N. ; et al.
    In: OCCUPATIONAL MEDICINE -OXFORD-, Jg. 63 (2013), Heft 1, S. 45-52
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Low cadmium (LCD), a novel gene related to cadmium tolerance and accumulation in rice
    Shimo, H. ; Ishimaru, Y. ; et al.
    In: JOURNAL OF EXPERIMENTAL BOTANY, Jg. 62 (2011), Heft 15, S. 5727-5734
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Investigation of the effect of ambient lighting on contrast sensitivity using a novel method for conducting visual research on LCDS
    Sund, P. ; Bath, M. ; et al.
    In: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, Jg. 139 (2010), Heft 1-3, S. 62-70
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Slit-Mura Detection through Non-contact Optical Measurements of In-Line Spectrometer for TFT-LCDs
    Tzu, F. M. ; Chou, J. H.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 92 (2009), Heft 3, S. 364-369
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Automated Fast and Accurate Display Calibration Using ADT Compensated LCD for Mobile Phone
    Han, C. H. ; Park, K. H.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 91 (2008), Heft 10, S. 1604-1607
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Development of the TFT-LCD Image Defect Inspection Method Based on Human Visual System
    Oh, J. H. ; Yun, B. J. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E SERIES A, Jg. 91 (2008), Heft 6, S. 1400-1407
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Image and Video Quality Assessment Using LCD: Comparisons with CRT Conditions (INVITED)
    Tourancheau, S. ; Le Callet, P. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E SERIES A, Jg. 91 (2008), Heft 6, S. 1383-1391
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Charge Pump Design for TFT-LCD Driver IC Using Stack-MIM Capacitor
    Lim, G. H. ; Song, S. Y. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 91 (2008), Heft 6, S. 928-935
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Image Restoration for Quantifying TFT-LCD Defect Levels
    Choi, K.N. ; Park, N.K. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E SERIES D, Jg. 91 (2008), Heft 2, S. 322-329
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dual-Level LVDS Technique for Reducing Data Transmission Lines by Half in LCD Driver IC's
    Kim, D. H. ; Yang, S. H. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 91 (2008), Heft 1, S. 72-80
    Online serialPeriodical
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Transistor Sizing of LCD Driver Circuit for Technology Migration
    Hashimoto, M. ; Ijichi, T. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E SERIES A, Jg. 90 (2007), Heft 12, S. 2712-2717
    Online serialPeriodical
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Subjective Evaluation Based on Analysis of Correlation between Physical Properties and Visualization of Various Motion Blurs on LCDs (INVITED)
    Hisatake, Y. ; Ito, H. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 90 (2007), Heft 11, S. 2112-2118
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    Image Enhancement for Automated TFT-LCD Inspection System Using Estimation of Intensity Flow
    Kim, W. S. ; Oh, J. H. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 90 (2007), Heft 11, S. 2126-2130
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Defect Detection of TFT-LCD Image Using Adapted Contrast Sensitivity Function and Wavelet Transform
    Oh, J. H. ; Kim, W. S. ; et al.
    In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E SERIES C, Jg. 90 (2007), Heft 11, S. 2131-2135
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    Wie komme ich dran?
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