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In: IMEKO -WORLD CONGRESS-, Jg. 2 (2000), S. 3-8KonferenzZugriff:
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In: IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, Jg. 3 (2000), S. 1512-1517KonferenzZugriff:
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In: COMMUNICATIONS IN NONLINEAR SCIENCE AND NUMERICAL SIMULATION, Jg. 11 (2006), Heft 3, S. 452-462Online serialPeriodical
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In: IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, Jg. 3 (2000), S. 1512-1517serialPeriodicalZugriff:
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In: IMEKO -WORLD CONGRESS-, Jg. 1 (2000), S. 12-12KonferenzZugriff: