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    Where Should We Fix This Bug? A Two-Phase Recommendation Model.
    Kim, Dongsun ; Tao, Yida ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-11-01), Heft 11, S. 1597-1610
    Online academicJournal
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    Automatic Summarization of Bug Reports.
    Rastkar, Sarah ; Murphy, Gail C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 40 (2014-04-01), Heft 4, S. 366-380
    Online academicJournal
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    Finding Atomicity-Violation Bugs through Unserializable Interleaving Testing.
    Lu, Shan ; Park, Soyeon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 38 (2012-04-01), Heft 4, S. 844-844
    Online academicJournal
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    Volltext (PDF)
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    Automated Behavioral Testing of Refactoring Engines.
    Soares, Gustavo ; Gheyi, Rohit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-02-01), Heft 2, S. 147-162
    Online academicJournal
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    Privately Finding Specifications.
    Weimer, Westley ; Mishra, Nina
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 34 (2008), Heft 1, S. 21-32
    Online academicJournal
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    A Decision-Analytic Stopping Rule for Validation of Commercial Software Systems.
    Chávez, Tom
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 26 (2000-09-01), Heft 9, S. 907-918
    Online academicJournal
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    Handling Timing Errors in Distributed Programs.
    Gordon, Aaron J. ; Finkel, Raphael A.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 14 (1988-10-01), Heft 10, S. 1525-1535
    Online academicJournal
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    Statistical Estimation of Software Reliability.
    Ross, Sheldon M.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 11 (1985-05-01), Heft 5, S. 479-483
    Online academicJournal
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    PROUST: Knowledge-Based Program Understanding.
    Johnson, W. Lewis ; Soloway, Elliot
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 11 (1985-03-01), Heft 3, S. 267-275
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    GenProg: A Generic Method for Automatic Software Repair.
    Le Goues, Claire ; Nguyen, Thanh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 38 (2012), Heft 1, S. 54-54
    Online academicJournal
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    Name-Based Analysis of Equally Typed Method Arguments.
    Pradel, Michael ; Gross, Thomas R.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-08-01), Heft 8, S. 1127-1143
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Incremental Test Generation for Software Product Lines.
    Uzuncaova, Engin ; Khurshid, Sarfraz ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 36 (2010-05-01), Heft 3, S. 309-322
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Better Debugging via Output Tracing and Callstack-Sensitive Slicing.
    Horwitz, Susan ; Liblit, Ben ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 36 (2010), Heft 1, S. 7-19
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Automatic Detection and Diagnosis of Faults in Generated Code for Procedure Calls.
    Bailey, Mark W. ; Davidson, Jack W.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 29 (2003-11-01), Heft 11, S. 1031-1042
    Online academicJournal
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    Software Engineering for User Interfaces.
    Draper, Stephen W. ; Norman, Donald A.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 11 (1985-03-01), Heft 3, S. 252-258
    Online academicJournal
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    Quantitative Estimates of Debugging Requirements.
    Ottenstein, Linda M.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 5 (1979-09-01), Heft 5, S. 504-514
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    Order and Difficulty of Debugging.
    Trachtenberg, Martin
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 9 (1983-11-01), Heft 6, S. 746-747
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    The Toy Language Syndrome.
    Rosen, Barry K.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 4 (1978), Heft 1, S. 76-77
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    Measuring Code Quality to Improve Specification Mining.
    Le Goues, Claire ; Weimer, Westley
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 38 (2012), Heft 1, S. 175-175
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