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    Selective Electron or Hole Conduction in Tungsten Diselenide (WSe<subscript>2</subscript>) Field-Effect Transistors by Sulfur-Assisted Metal-Induced Gap State Engineering.
    Ansh ; Kumar, Jeevesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 383-388
    Online academicJournal
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    Nitrogen Engineering in the Ultrathin SiO2 Interface Layer of High- k CMOS Devices: A First-Principles Investigation of Fluorine, Oxygen, and Boron Defect Migration.
    Lazarevic, Florian ; Leitsmann, Roman ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 5073-5080
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Variation of Digital SET Pulse Widths and the Implications for Single Event Hardening of Advanced CMOS Processes.
    Benedetto, J. M. ; Eaton, P. H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2114-2119
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    16 x 16 pixel silicon on sapphire CMOS digital pixel photosensor array.
    Culurciello, E. ; Andreou, A.G
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 40 (2004-01-08), Heft 1, S. 66-68
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Programmable CMOS injection-locked frequency divider.
    Yang, Y. C. ; Lin, K. T.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 46 (2010-10-14), Heft 21, S. 1439-1441
    academicJournal
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    142 GHz amplifier with 18.5 dB gain and 7.9 mW DC power in 65 nm CMOS.
    Meng, Xiangyu ; Chi, Baoyong ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 50 (2014-10-09), Heft 21, S. 1513-1514
    Online academicJournal
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    Tuning RF CMOS for 3GPP linearity spec.
    In: Electronics Weekly, 2005-11-02, Heft 2216, S. 23-23
    Online serialPeriodical
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    Research in post-CMOS technologies.
    Yeates, Harry
    In: Electronics Weekly, 2004-09-08, Heft 2161, S. 3-3
    Online serialPeriodical
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    Wide Range, Process and Temperature Compensated Voltage Controlled Current Source.
    Kayahan, Huseyin ; Ceylan, Omer ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 60 (2013-05-01), Heft 5, S. 1345-1353
    Online serialPeriodical
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS power amplifier rolls for GSM handsets.
    Patrick Mannion, David
    In: Electronic Engineering Times (01921541), 2004-02-09, Heft 1307, S. 10-10
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Linear CMOS process tunes passives.
    In: Electronic Engineering Times (01921541), 2003-06-02, Heft 1272, S. 6-6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An Accurate Ultra-Compact I–V Model for Nanometer MOS Transistors With Applications on Digital Circuits.
    Consoli, E. ; Giustolisi, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 159-169
    Online serialPeriodical
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Compact and Fast Response Dual-Directional SCR for Nanoscale ESD Protection Engineering.
    Du, Feibo ; Chang, Kuan-Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 3490-3493
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Nutanix hires former VMware exec to lead engineering team.
    Goovaerts, Diana
    In: Fierce Telecom, 2022-04-06, S. N.PAG
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Characterization of Human Metal ESD Reference Discharge Event and Correlation of Generator Parameters to Failure Levels -- Part II: Correlation of Generator Parameters to Failure Levels.
    Wang, Kai ; Pommerenke, David ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 46 (2004-11-01), Heft 4, S. 505-511
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Memristor-Based Cellular Nonlinear/Neural Network: Design, Analysis, and Applications.
    Duan, Shukai ; Hu, Xiaofang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks & Learning Systems, Jg. 26 (2015-06-01), Heft 6, S. 1202-1213
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Low-Power and High-Precision Spread Spectrum Clock Generator for Serial Advanced Technology Attachment Applications Using Two-Point Modulation.
    Kao, Yao-Huang ; Hsieh, Yi-Bin
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 51 (2009-05-01), Heft 2, S. 245-254
    Online academicJournal
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    The Effect of Metallization Layers on Single Event Susceptibility.
    Kobayashi, A. S. ; Ball, D. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2189-2193
    Online academicJournal
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    Role of Heavy-Ion Nuclear Reactions in Determining On-Orbit Single Event Error Rates.
    Howe, Christina L. ; Weller, Robert A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2182-2188
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    Comparison of Heavy Ion and Proton Induced Combinatorial and Sequential Logic Error Rates in a Deep Submicron Process.
    Gadlage, Matthew J. ; Eaton, Paul H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2120-2124
    Online academicJournal
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