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    LNU Lightning Complex wildfire destroys 871 structures.
    Jones, John Hewitt
    In: Inside P&C, 2021-02-01, S. 682-682
    Online serialPeriodical
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    LNU Fire damages over 1,000 structures.
    Casey, Samuel
    In: Inside P&C, 2021-02-01, S. 638-638
    Online serialPeriodical
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    LNU Lightning Complex wildfire destroys 1,080 structures.
    Jones, John Hewitt
    In: Inside P&C, 2021-02-01, S. 604-604
    Online serialPeriodical
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    LNU Lightning California wildfire is 63% extinguished.
    Jones, John Hewitt
    In: Inside P&C, 2021-02-01, S. 594-594
    Online serialPeriodical
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    Improved Low-Voltage Sensing Performance in MIS(p) Tunnel Diodes by Oxide Thickening at the Gate Fringe.
    Lin, Kuan-Wun ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1845-1851
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Paid leave to care for sick children – the limitations and opportunities at work.
    Boye, Katarina
    In: Community, Work & Family, 2024-01-05, S. 1-26
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Antimicrobial resistance characteristics and phylogenetic relationships of pleuromutilin-resistant Enterococcus isolates from different environmental samples along a laying hen production chain.
    Lin, Cong ; Feng, Yuxuan ; et al.
    In: Journal of Environmental Sciences (Elsevier), Jg. 137 (2024-03-01), S. 195-205
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The Constant Gap: Parenthood Premiums in Sweden 1968–2010.
    Bygren, Magnus ; Gähler, Michael ; et al.
    In: Social Forces, Jg. 100 (2021-09-01), Heft 1, S. 137-168
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Lateral Nonuniformity of Effective Oxide Charges in MOS Capacitors With A1<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript> Gate Dielectrics.
    Huang, Szu-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-07-01), Heft 7, S. 1608-1614
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of Constitution and Characteristics of Lateral Nonuniformity Effects of MOS Devices Using QM-Based Terman Method.
    Lin, Hao-Peng ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-11-01), Heft 11, S. 3064-3070
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Outside options and wages: What can we learn from subjective assessments?
    Lachowska, Marta
    In: Empirical Economics, Jg. 52 (2017-02-01), Heft 1, S. 79-121
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
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    The Making of an iSchool.
    GOLUB, KORALJKA
    In: Information Today, Jg. 35 (2018-05-01), Heft 4, S. 1-3
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Lateral Nonuniformity Effects of Border Traps on the Characteristics of Metal--Oxide--Semiconductor Field-Effect Transistors Subjected to High-Field Stresses.
    Tseng, Jen-Chou ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 6, S. 1366-1372
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Self-reported Psychological Well-being among Adult Children of Divorce in Sweden.
    Gähler, Michael
    In: Acta Sociologica (Taylor & Francis Ltd), Jg. 41 (1998-09-01), Heft 3, S. 209-225
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    WHAT WE'VE LEARNED ABOUT LEARNING -- A CORPORATE ' UNIVERSITY ' AT LEEDS & NORTHRUP CO.
    Eddy, Bob ; Kellow, John
    In: Training & Development Journal (0041-0861), Jg. 31 (1977-05-01), Heft 5, S. 32-36
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Short communication: Prevalence, antimicrobial resistance, and resistant traits of coagulase-negative staphylococci isolated from cheese samples in Turkey.
    Kürekci, Cemil
    In: Journal of Dairy Science, Jg. 99 (2016-04-01), Heft 4, S. 2675-2679
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Searching Out in Left Field: Another Review of LEXIS-NEXIS Universe.
    Peppriell, Barbara
    In: Searcher (1070-4795), Jg. 7 (1999-02-01), Heft 2, S. 10-11
    Online serialPeriodical
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    Surface Nonuniformity-Induced Frequency Dispersion in Accumulation Capacitance for Silicon MOS(n) Capacitor.
    Lin, Huang-Hsuan ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), Heft 7, S. 2844-2851
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Comprehensive Study on Negative Capacitance Effect Observed in MOS(n) Capacitors With Ultrathin Gate Oxides.
    Chang, Shu-Jau ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-03-01), Heft 3, S. 684-690
    Online academicJournal
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    How Do You Do, FNU? Some in U.S. Handle Just One Name.
    Jordan, Miriam
    In: Wall Street Journal (Online), 2016-03-22, S. 1-1
    Online Zeitungsartikel
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    Wie komme ich dran?
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