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    Counting alpha particles produced by radon daughters using commercial off-the-shelf complementary metal oxide semiconductor (COTS CMOS) image sensors.
    Lin, Fen ; Xie, Ruomei ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 19 (2024-04-01), Heft 4, S. 1-10
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    AstroPix4 — a novel HV-CMOS sensor developed for space based experiments.
    Striebig, N. ; Leys, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 19 (2024-04-01), Heft 4, S. 1-7
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Multichannel integrated circuit for time-based measurements in 28 nm CMOS.
    Kadlubowski, L.A. ; Kmon, P.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 19 (2024-02-01), Heft 2, S. 1-13
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Development of CMOS dosimetry in proton minibeams for enhanced QA and primary standard absorbed dose calorimetry.
    Flynn, Samuel ; Allport, Philip ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023-03-01), Heft 3, S. 1-23
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of irradiated RD53A pixel modules with passive CMOS sensors.
    Jofrehei, A. ; Backhaus, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 17 (2022-09-01), Heft 9, S. 1-6
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A 4-channel front-end electronics for muon drift tubes detectors in 65 nm CMOS technology.
    Shah, S.A.A. ; De Matteis, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 17 (2022-07-01), Heft 7, S. 1-7
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Characterisation of a soft X-ray optimised CMOS Image Sensor.
    Heymes, J. ; Ivory, J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 17 (2022-05-01), Heft 5, S. 1-17
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Radiation induced degradation in a 150-nm CMOS SPADs device.
    Campajola, M. ; Capua, F. Di ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2021-08-01), Heft 8, S. 1-10
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Prototype of simultaneous bidirectional data-transmitter in 65 nm CMOS.
    Kishishita, T. ; Krüger, H.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-06-01), Heft 6, S. 1-8
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 12-bit 30 MS/s SAR ADC in 180 nm CMOS for PMT signal readout.
    Guo, Y. ; Zhou, S. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-06-01), Heft 6, S. 1-15
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A detailed simulation study on the effect of energy and angle of incidence for low energy protons on Single Event Upsets induced in nanometer CMOS SRAM.
    Soleimaninia, M. ; Raisali, G. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-03-01), Heft 3, S. 1-19
    academicJournal
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    A novel quad-channel 10 Gbps CMOS VCSEL array driver with integrated charge pumps.
    Huang, X. ; Gong, D. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-12-01), Heft 12, S. 1-16
    academicJournal
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    Stability and efficiency of a CMOS sensor as detector of low energy β and γ particles.
    Collamati, F. ; Amoruso, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-11-01), Heft 11, S. 1-24
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electrical characterization of 180 nm ATLASPix2 HV-CMOS monolithic prototypes for the High-Luminosity LHC.
    Sultan, D M S ; Gonzalez-Sevilla, S. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-05-01), Heft 5, S. 1-23
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC.
    Barbero, M. ; Barrillon, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-05-01), Heft 5, S. 1-21
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    WASA: a low power front-end ASIC for time projection chambers in 65 nm CMOS.
    Liu, W. ; Zhao, X. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-05-01), Heft 5, S. 1-13
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Analysis of the performance of CMOS APS imagers after proton damage.
    Meroli, S. ; Passeri, D. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 8 (2013-02-01), Heft 2, S. 1-7
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A fast and low noise charge sensitive preamplifier in 90 nm CMOS technology.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012), Heft 1, S. 1-9
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Conceptual design of a MGy tolerant integrated signal conditioning circuit in 130nm and 700nm CMOS.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012), Heft 1, S. 1-9
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Development of Low-Power Small-Area L-2L CMOS DACs for multichannel readout systems.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012), Heft 1, S. 1-8
    Online academicJournal
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