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    Nanostructure and giant Hall effect in TM<subscript>x</subscript>(SiO<subscript>2</subscript>)<subscript>1-x</subscript> (TM=Co,Fe,Ni) granular system.
    Socolovsky, L. M. ; Oliveira, C. L. P. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 99 (2006-04-15), Heft 8, S. 8C511- (3S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Ion temperature measurements on TMX-U using a gridless electrostatic analyzer.
    Falabella, S. ; Molvik, A. W.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 61 (1990-07-01), Heft 7, S. 1892-1899
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Plasma potential formation and measurement in TMX-U and MFTF-B (invited).
    Grubb, D. P.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 947-952
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ion cyclotron heating in TMX-U.
    Dimonte, Guy ; Molvik, A. W. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 129 (1985-07-01), Heft 1, S. 24-27
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    TMX-U high frequency central-cell electron heating.
    Cummins, W. F. ; Barter, J. D. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 129 (1985-07-01), Heft 1, S. 209-212
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Database tools for enhanced analysis of TMX-U data.
    Stewart, M. E. ; Carter, M. R. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1929-1931
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Optically thin perpendicular electron-cyclotron emission from hot electrons in TMX-U.
    James, Reed A. ; Lasnier, C. J. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1968-1970
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    TMX-U computer system in evolution.
    Casper, T. A. ; Bell, H. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1880-1882
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Improved system for perpendicular electron-cyclotron emission measurements on TMX-U.
    Lasnier, C. J. ; Ellis, R. F. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1971-1973
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Diagnostic system for measurement of particle balance in TMX-U.
    Allen, S. L. ; Correll, D. L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 2072-2074
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Plasma measurements with the TMX-U E||B end-loss-ion spectrometers.
    Foote, J. H. ; Wood, B. E. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1786-1788
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Time-integrated x-ray measurements of the very energetic electron end loss profile in TMX-U.
    Osher, J. E. ; Fabyan, J.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 824-826
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Perpendicular electron cyclotron emission from hot electrons in TMX-U.
    James, R. A. ; Ellis, R. F. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 934-936
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Spectroscopic study of sources and control of impurities in TMX-U.
    Yu, T. L. ; Allen, S. L. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 3 (1985-05-01), Heft 3, S. 1077-1080
    academicJournal
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    Neutral-fueling pressure measurements and modeling near the plasma edge in TMX-U.
    Pickles, W. L.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 3 (1985-05-01), Heft 3, S. 1171-1174
    academicJournal
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    Halo plasma heating by neutral beam injection in TMX-U.
    Hsu, W. L. ; Bauer, W. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 3 (1985-05-01), Heft 3, S. 1175-1178
    academicJournal
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    Gas pressure in the end plug regions of the TMX-U thermal barrier experiment.
    Turner, W. C. ; Nexsen, W. E. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 2 (1984-10-01), Heft 4, S. 1576-1582
    academicJournal
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    TMX plasma edge parameters: Passive solid-state probe measurements.
    Pontau, A. E. ; Bastasz, R. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 2 (1984-07-01), Heft 3, S. 1378-1383
    academicJournal
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    Characterization of titanium films in the Tandem Mirror Experiment Upgrade (TMX-U).
    Hsu, W. L. ; Bastasz, R. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 2 (1984-04-01), Heft 2, S. 1222-1225
    academicJournal
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    Dynamic gas flow during plasma operation in TMX-U.
    Pickles, W. L. ; Calderon, M. O. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 1 (1983-04-01), Heft 2, S. 1288-1292
    academicJournal
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