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    Drain and Gate Current LF Noise in Advanced CMOS devices with Ultrathin gate Oxides.
    Contaret, T. ; Romanjek, K. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 315-318
    Konferenz
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    Analysis of Error Sources in On-Wafer Noise Characterization of RF CMOS Transistors.
    Wiatr, Wojciech
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 697-700
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low-Frequency Noise Characterization of 90 nm Multiple Gate Oxide CMOS Transistors.
    Lukyanchikova, N. ; Garbar, N. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 331-334
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Modeling and characterization of noise in 90-nm RF CMOS technology.
    Scholten, A. J. ; Tiemeijer, L. F. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 735-740
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Introduction to spin wave computing.
    Mahmoud, Abdulqader ; Ciubotaru, Florin ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 128 (2020-10-28), Heft 16, S. 161101-1- (44S.)
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Physics and applications of nanotubes.
    Maruyama, Shigeo ; Arnold, Michael S. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 131 (2022-02-28), Heft 8, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Complementary metal-oxide-semiconductor-compatible and self-aligned catalyst formation for carbon nanotube synthesis and interconnect fabrication.
    Zhang, Can ; Yan, Feng ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 111 (2012-03-15), Heft 6, S. 64310-64315
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Bipolar pulsed excitation of erbium-doped nanosilicon light emitting diodes.
    Anopchenko, A. ; Tengattini, A. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 111 (2012-03-15), Heft 6, S. 63102-63106
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Metrology for Emerging Devices and Materials.
    Vogel, Eric M.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 788 (2005-09-09), Heft 1, S. 650-655
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Custom single-photon avalanche diode with integrated front-end for parallel photon timing applications.
    Cammi, C. ; Panzeri, F. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 83 (2012-03-01), Heft 3, S. 33104-33111
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Investigation of multilayer WS<subscript>2</subscript> flakes as charge trapping stack layers in non-volatile memories.
    Wang, Hong ; Ren, Deliang ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 112 (2018-06-04), Heft 23, S. N.PAG- (5S.)
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Two-dimensional electro-optic sampling of terahertz radiation using high-speed complementary metal-oxide semiconductor camera combined with arrayed polarizer.
    Kitahara, Hideaki ; Tani, Masahiko ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 94 (2009-03-02), Heft 9, S. N.PAG- (3S.)
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Rectifying and photovoltaic properties of the heterojunction composed of CaMnO<subscript>3</subscript> and Nb-doped SrTiO<subscript>3</subscript>.
    Sun, J. R. ; Zhang, S. Y. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 86 (2005-01-31), Heft 5, S. 53503-53505
    Online academicJournal
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    Local sensor based on nanowire field effect transistor from inhomogeneously doped silicon on insulator.
    Presnov, Denis E. ; Bozhev, Ivan V. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 123 (2018-02-01), Heft 5, S. 1-1
    Online academicJournal
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    Low Loss Nanophotonic Waveguides and Ring Resonators in Silicon-on-Insulator.
    Baets, Roel ; Bogaerts, Wim ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 709 (2004-05-10), Heft 1, S. 308-327
    Konferenz
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    Active junction isolation for smart power integrated circuits.
    Starke, T.K.H. ; Igic, P.M. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 84 (2004-06-21), Heft 25, S. 5148-5149
    Online academicJournal
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