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    A Processing Quality Prognostics Scheme for Plasma Sputtering in TFT-LCD Manufacturing.
    Su, Yu-Chuan ; Hung, Min-Hsiung ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-05-01), Heft 2, S. 183-194
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Detection Method and Common Characteristics of Waste Solvent from Semiconductor Industry.
    Ni, Jinjuan ; Zhang, Qing ; et al.
    In: Molecules, Jg. 28 (2023-08-15), Heft 16, S. 5992-6006
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    MEGACHIP LAUNCHES PRODUCTION OF MOBILE PHONE LCD DRIVERS.
    In: Electro Manufacturing, Jg. 20 (2007), Heft 1, S. 7-8
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Welche Tech-Trends 2023 bestimmen werden. (German)
    Probst, Martin
    In: Productronic, 2023-02-28, Heft 1, S. 1-1
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    LCDs: Heading for overcapacity?
    Lerner, Ivan
    In: Chemical Market Reporter, Jg. 267 (2005-04-25), Heft 17, S. 24-24
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    LCD driver optimises voltages for power efficiency.
    In: Electronics Weekly, 2004-07-07, Heft 2154, S. 26-26
    Online serialPeriodical
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    Class-D audio amp for LCD TVs.
    In: Electronics Weekly, 2005-05-11, Heft 2193, S. 1-1
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    Capacity-filtering algorithms for finite-capacity planning of a flexible flow line.
    Choi, B.K. ; Seo, J.C.
    In: International Journal of Production Research, Jg. 47 (2009-06-15), Heft 12, S. 3363-3386
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Improving SEM Inspection Performance in Semiconductor Manufacturing Industry.
    Lin, Chih‐Long ; Chen, Fu‐Sheng ; et al.
    In: Human Factors & Ergonomics in Manufacturing & Service Industries, Jg. 24 (2014), Heft 1, S. 124-129
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Accuracy and Real-Time Considerations for Implementing Various Virtual Metrology Algorithms.
    Su, Yu-Chuan ; Lin, Tung-ho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 21 (2008-08-01), Heft 3, S. 426-434
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Dual-Phase Virtual Metrology Scheme.
    Cheng, Fan-Tien ; Huang, Hsien-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 20 (2007-11-01), Heft 4, S. 566-571
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    SWOT Analysis.
    In: Texas Instruments, Inc. SWOT Analysis, 2005-11-01, S. 5-9
    unknown
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    SWOT Analysis.
    In: Texas Instruments, Inc. SWOT Analysis, 2005-10-01, S. 5-9
    unknown
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    Beyond make-or-buy: cross-company short-term capacity backup in semiconductor industry ecosystem.
    Chien, Chen-Fu ; Kuo, Ren-Tsun
    In: Flexible Services & Manufacturing Journal, Jg. 25 (2013-09-01), Heft 3, S. 310-342
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Developing an Automatic Virtual Metrology System.
    Cheng, Fan-Tien ; Huang, Hsien-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Automation Science & Engineering, Jg. 9 (2012), Heft 1, S. 181-188
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Perfluorocompounds emission reduction by the semiconductor industry.
    Illuzzi, Francesca ; Thewissen, Harry
    In: Journal of Integrative Environmental Sciences, Jg. 7 (2010-08-02), S. 201-210
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    SWOT Analysis.
    In: Applied Materials, Inc. SWOT Analysis, 2007-05-01, S. 5-7
    unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    SWOT Analysis.
    In: Advantest Corporation SWOT Analysis, 2006-06-01, S. 5-7
    unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    MICROCONTROLLER-BASED ENERGY METER.
    Ibrahim, Dogan
    In: Electronics World, Jg. 114 (2008-08-01), Heft 1868, S. 35-42
    serialPeriodical
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    TOP 101 COMPONENTS SHOWCASE INDUSTRY INNOVATION.
    Dirjish, Mat
    In: Electronic Design, Jg. 56 (2008-05-22), Heft 10, S. 34-40
    Online serialPeriodical
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