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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A Simple Static Noise Margin Model of MOS CML Gate in CMOS Processes
    Jeong, Hocheol ; Kang, Jaehyun ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 17 (2017-06-30), Heft 3, S. 370-376
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Analysis of Electromigration in Nanoscale CMOS Circuits
    Kyung Ki Kim (김경기)
    In: 한국산업정보학회논문지, Jg. 18 (2013-02-28), Heft 1, S. 19-23
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    The Impact of TDDB Failure on Nanoscale CMOS Digital Circuits
    Yeon-Bo Kim (김연보) ; Kyung Ki Kim (김경기)
    In: 한국산업정보학회논문지, Jg. 17 (2012-09-30), Heft 3, S. 27-33
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CMOS 집적회로 테스팅을 위한 내장형 전류 감지 회로 설계
    김태상 (Kim, Tae-Sang) ; 홍승호 (Hong, Seung-Ho) ; et al.
    In: 전기전자학회논문지, Jg. 9 (2005-07-31), Heft 1, S. 57-63
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Self-Adaptive Post-Silicon Tuning Technique
    김경기 (Kyung Ki Kim)
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 2011 (2011-04-30), Heft 4, S. 243-245
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    NBTI 노화 효과를 고려한 헤더 기반의 파워게이팅 구조
    김경기 (Kyung Ki Kim)
    In: 전자공학회논문지-SD, Jg. 49 (2012-02-29), Heft 2, S. 23-29
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Class-F 구동회로를 사용하는 Class-E 전력 증폭기의 신뢰성
    崔晉縞 (Jin-Ho Choi)
    In: 전기학회논문지 C, Jg. 55C (2006-06-30), Heft 6, S. 287-289
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Self-Powered RFID Sensor Tag for Long-Term Temperature Monitoring in Substation
    Chen, Zhongbin ; Deng, Fangming ; et al.
    In: Journal of Electrical Engineering & Technology, Jg. 13 (2018-01-31), Heft 1, S. 501-511
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    On-State Resistance Instability of Programmed Antifuse Cells during Read Operation
    Jae Hwan Han ; Lee, Hyunjin ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 14 (2014-10-31), Heft 5, S. 503-506
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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