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    Quantification of a Ti(C.sub.x N.sub.1-x ) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Auger electron spectroscopy measurement of electron attenuation lengths using multilayer systems
    Suzuki, M. ; Mogi, K. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 51-55
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Is gold always chemically passive?
    Aufray, MaA'Lenn ; Roche, Alain Andre
    In: Applied Surface Science, Jg. 254 (2008-01-30), Heft 7, S. 1936-1941
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam
    Park, Jong-Yong ; Jung, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-06-15), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    High-temperature Auger electron spectroscopy of Zircaloy-4
    Stojilovic, N. ; Bender, E.T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2005-12-15), Heft 5, S. 1806-1811
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Determination of the interface region in multilayerSi/Moby Auger depth profile and factor analysis
    Morohashi, T. ; Hoshi, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 84-88
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Intrinsic Auger signal profiles derived by Monte Carlo analysis
    Ding, Z. J. ; Shimizu, R. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 15-19
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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