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    Failure analysis of high-density CMOS SRAMs; using realistic defect modeling and IDDQ testing
    Naik, Samir ; Agricola, Frank ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v10 (1993-06-01), Heft n2, S. 13-23
    Online academicJournal
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    CMOS technology trends and economics
    Wieder, Armin W. ; Neppl, Franz
    In: IEEE Micro, Jg. v12 (1992-08-01), Heft n4, S. 10-19
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Empirical failure analysis and validation of fault models in CMOS VLSI circuits
    Pancholy, Ashish ; Rajski, Janusz ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v9 (1992-03-01), Heft n1, S. 72-83
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS photonics for high-speed interconnects
    Gunn, Cary
    In: IEEE Micro, Jg. 26 (2006-03-01), Heft 2, S. 58-67
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Rethinking deep-submicron circuit design: Interconnect delay need not increase as CMOS process geometries shrink, and current IC design methods should suffice for modules of up to 50,000 gates
    Sylvester, Dennis ; Keutzer, Kurt
    In: Computer, Jg. 32 (1999-11-01), Heft 11, S. 25-33
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS Options For Single-Chip Applications
    Laes, Edgard ; Baldi, Livio ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. 19 (1999-09-01), Heft 5, S. 23-30
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Developing a 0.18-Micron CMOS Process
    Haond, Michel ; Basso, Marie-Therese ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. 19 (1999-09-01), Heft 5, S. 16-22
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A general-purpose CMOS associative processor IC and system
    Stormon, Charles D. ; Troullinos, Nikos B. ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v12 (1992-12-01), Heft n6, S. 68-78
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Designing CMOS circuits for switch-level testability
    Liu, Dick L. ; McCluskey, Edward J.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. 4 (1987-08-01), Heft 4, S. 42-49
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A built-in self-test of a CMOS ALU
    Cerny, E. ; Aboulhamid, M. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v5 (1988-08-01), Heft n4, S. 38-48
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    IA-32 processor with a wide-voltage operating range in 32-NM CMOS
    Ruhl, Gregory ; Dighe, Saurabh ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. 33 (2013-03-01), Heft 2, S. 28
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A CMOS neural network for pattern association
    Walker, Mark ; Hasler, Paul ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v9 (1989-10-01), Heft n5, S. 68-74
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The VLSI Control Structure of a CMOS Microcomputer
    Maejima, H. ; Katsura, K. ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v3 (1983-12-01), Heft n6, S. 9
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Trends in silicon-on-silicon multichip modules
    Frye, Robert C. ; Tai, King L. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v10 (1993-12-01), Heft n4, S. 8-17
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Vision assistance in scenes with extreme contrast
    Seger, Ulrich ; Graf, Heinz-Gerd ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v13 (1993-02-01), Heft n1, S. 50-56
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Analog-digital technologies for mixed-signal processing: the driving force to success for the European industry
    Laes, Edgard ; Casier, Herman J. ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v12 (1992-08-01), Heft n4, S. 34-42
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Wafer-scale transducer arrays
    Chapman, Glenn H. ; Parameswaran, M. ; et al.
    In: Computer, Jg. v25 (1992-04-01), Heft n4, S. 50-56
    Online academicJournal
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Rapid prototyping of high-speed communications chips
    Boyer, David G. ; Cordell, Robert R.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v8 (1991-06-01), Heft n2, S. 27-39
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A microprocessor-based implantable telemetry system
    Fernald, Kenneth W. ; Cook, Todd A. ; et al.
    In: Computer, Jg. v24 (1991-03-01), Heft n3, S. 23-30
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Low-cost testing of high-density logic components
    Bassett, Robert W. ; Butkus, Barry J. ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v7 (1990-04-01), Heft n2, S. 15-28
    Online academicJournal
    Zugriff:
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