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24 Treffer

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    CEA shows path to creating building blocks of quantum processors in a CMOS fab line.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 57 (2018-05-01), Heft 5, S. 4-5
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    CMOS cameras.
    In: EE-Evaluation Engineering, 2016-06-01, S. 31-31
    Online serialPeriodical
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    IRLYNX and CEA-Leti to streamline CMOS infrared sensing.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 53 (2014-12-01), Heft 12, S. 6-6
    Online serialPeriodical
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    CMOS Image Sensor.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 51 (2012-06-01), Heft 6, S. 41-41
    Online serialPeriodical
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    imec demonstrates hyperspectral CMOS camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 52 (2013-04-01), Heft 4, S. 6-6
    Online serialPeriodical
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    CMOS-based camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 43 (2004-12-01), Heft 12, S. 48-48
    Online serialPeriodical
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    System tests CMOS image sensors.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 45 (2006-12-01), Heft 12, S. 8-8
    Online serialPeriodical
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    Image sensor tester targets CMOS and CCD modules.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 49 (2010), Heft 1, S. 10-10
    Online serialPeriodical
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    Advances in test program automation.
    Bonnin, Christian
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 46 (2007-07-01), Heft 7, S. 12-15
    Online serialPeriodical
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    Volltext (PDF)
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The future of high-speed ATE: nanometer SOC device manufacturing requires flexible at-speed functional testing.
    Leichtle, Clemens
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 43 (2004-11-01), Heft 11, S. 32-36
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Electron backscatter diffraction detector.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 57 (2018-11-01), Heft 11, S. 26-26
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Digital image sensor.
    Nelson, Rick
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 57 (2018-06-01), Heft 6, S. 37-37
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Radar targets cars, conscious buildings.
    Nelson, Rick
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 53 (2014-09-01), Heft 9, S. 44-44
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Smart camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 53 (2014-08-01), Heft 8, S. 32-32
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Industry consortium tasked with developing silicon on insulator sensors for harsh environments.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 51 (2012-03-01), Heft 3, S. 6-6
    Online serialPeriodical
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    Digital accelerometer.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 51 (2012-02-01), Heft 2, S. 32-32
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Machine Vision Cameras.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 48 (2009-12-01), Heft 12, S. 36-36
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    4-megapixel camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 45 (2006-11-01), Heft 11, S. 70-70
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    4-megapixel camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 45 (2006-05-01), Heft 5, S. 76-76
    Online serialPeriodical
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    PXI switch modules.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 45 (2006), Heft 1, S. 64-64
    Online serialPeriodical
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