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  1. Battipede, M. ; Gili, P. ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 American Control Conference,, Jg. 5 (2003), S. 4213-4218
    Konferenz
  2. Battipede, M. ; Gili, P. ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 American Control Conference,, Jg. 2 (2003), S. 1302-1307
    Konferenz
  3. Perhinschi, M.G. ; Napolitano, M.R. ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 American Control Conference,, Jg. 2 (2003), S. 1667-1672
    Konferenz
  4. Perhinschi, M.G. ; Campa, G. ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 American Control Conference,, Jg. 2 (2003), S. 1661-1666
    Konferenz
  5. Perhinschi, Mario G. ; Burken, John ; et al.
    In: 2006 14th Mediterranean Conference on Control and Automation, 2006-06-01, S. 1
    Konferenz
  6. Koepke, M.E. ; Amatucci, W.E.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 20 (1992-12-01), Heft 6, S. 631-635
    Online academicJournal
  7. Ammar, H.H. ; Tewksbury, S.
    In: Proceedings Frontiers in Education 1997 27th Annual Conference. Teaching and Learning in an Era of Change, Jg. 2 (1997), S. 1
    Konferenz
  8. In: 12th WVU International Mining Electrotechnology Conference, 1994, S. 1
    Konferenz
  9. Nutter, R.S. ; Grayson, R.L. ; et al.
    In: 12th WVU International Mining Electrotechnology Conference, 1994, S. 78-78
    Konferenz
  10. Keiter, P.A. ; Scime, E.E.
    In: IEEE Conference Record - Abstracts. 1996 IEEE International Conference on Plasma Science, 1996, S. 218-218
    Konferenz
  11. Raman, R.S. ; Reddy, N.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industry Applications, Jg. 24 (1988-09-01), Heft 5, S. 866-869
    Online academicJournal
  12. Martin, Michael ; Dawson, Jeremy ; et al.
    In: 2017 European Intelligence and Security Informatics Conference (EISIC), 2017-09-01, S. 135-138
    Konferenz
  13. Jaswal, G. ; Verma, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biometrics, Behavior, and Identity Science, Jg. 6 (2024-04-01), Heft 2, S. 195-208
    Online academicJournal
  14. Cao, K. ; Jain, A.K.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Jg. 41 (2019-04-01), Heft 4, S. 788-800
    Online academicJournal
  15. Xu, Xuan ; Martin, Michael ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM International Conference on Advances in Social Networks Analysis and Mining (ASONAM), 2016-08-01, S. 1238-1243
    Online Konferenz
  16. Chufo, R.L.
    In: 12th WVU International Mining Electrotechnology Conference, 1994, S. 1-3
    Konferenz
  17. Kalka, Nathan ; Bartlow, Nick ; et al.
    In: 2015 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW), 2015-06-01, S. 50-56
    Konferenz
  18. Tomeo-Reyes, Inmaculada ; Ross, Arun ; et al.
    In: 2015 International Conference on Biometrics (ICB), 2015-05-01, S. 9-16
    Konferenz
  19. El-Naggar, S. ; Bourlai, T.
    In: IEEE Transactions on Biometrics, Behavior, and Identity Science, Jg. 5 (2023), Heft 1, S. 64-75
    Online academicJournal
  20. Aghdaie, P. ; Soleymani, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 24281-24298
    Online academicJournal
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