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  1. Zhong, Yonghong ; Shang, Yadi
    In: 2020 13th International Symposium on Computational Intelligence and Design (ISCID), 2020-12-01, S. 54-57
    Konferenz
  2. Saeed, M. ; Ahsan, M. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 146730-146744
    Online academicJournal
  3. Kim, Woong Ryeol ; Kim, Moon-Kyum
    In: 2019 20th IEEE/ACIS International Conference on Software Engineering, Artificial Intelligence, Networking and Parallel/Distributed Computing (SNPD), 2019-07-01, S. 395-408
    Konferenz
  4. Arjoune, Y. ; Nguyen, T.N. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 7747-7761
    Online academicJournal
  5. Verdinelli, Fabio ; Thomas, Mathew
    In: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2024-01-22, S. 1-6
    Konferenz
  6. Celestini, Alessandro ; Cianfriglia, Marco ; et al.
    In: 2019 IEEE International Conference on Bioinformatics and Biomedicine (BIBM), 2019-11-01, S. 2121-2128
    Konferenz
  7. Bolzoni, Alberto ; La Bella, Alessio ; et al.
    In: 2015 IEEE 1st International Forum on Research and Technologies for Society and Industry Leveraging a better tomorrow (RTSI), 2015-09-01, S. 534-540
    Konferenz
  8. Ma, Marggie ; Du, Jiangze ; et al.
    In: 2013 Sixth International Conference on Business Intelligence and Financial Engineering, 2013-11-01, S. 295-299
    Konferenz
  9. Fan, M. ; Wu, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems, Jg. PP, Heft 99, S. 1-13
    academicJournal
  10. Fanelli, Pietro ; Verma, Dharmjeet ; et al.
    In: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2024-01-22, S. 1-6
    Konferenz
  11. Sassetti, Riccardo ; Ferrante, Simone ; et al.
    In: 2023 AEIT International Conference on Electrical and Electronic Technologies for Automotive (AEIT AUTOMOTIVE), 2023-07-17, S. 1-6
    Konferenz
  12. Cassanelli, Davide ; Cattini, Stefano ; et al.
    In: 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Automotive (MetroAutomotive), 2023-06-28, S. 211-216
    Konferenz
  13. Parreiras, Thiago M. ; Brandao, Dener A. de L. ; et al.
    In: 2023 IEEE Transportation Electrification Conference & Expo (ITEC), 2023-06-21, S. 1-6
    Konferenz
  14. Cassanelli, Davide ; Cattini, Stefano ; et al.
    In: 2023 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2023-05-22, S. 1-6
    Konferenz
  15. Fanelli, Pietro ; Sidoti, Cinzia ; et al.
    In: 2023 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2023-01-23, S. 1-5
    Konferenz
  16. Parreiras, Thiago M. ; Dener A. L., Brandao ; et al.
    In: 2022 IEEE Transportation Electrification Conference and Expo, Asia-Pacific (ITEC Asia-Pacific), 2022-10-28, S. 1-6
    Konferenz
  17. Cattini, S. ; Cassanelli, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 72 (2023), S. 1-14
    Online academicJournal
  18. Hadi, A.A. ; Fu, X. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 64248-64259
    Online academicJournal
  19. Ovechkin, Aleksandr ; Leeman, Brian ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 7-12
    Konferenz
  20. Cassanelli, Davide ; Cattini, Stefano ; et al.
    In: 2022 IEEE International Workshop on Metrology for Automotive (MetroAutomotive), 2022-07-04, S. 59-64
    Konferenz
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