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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Test Structures to Investigate ESD Robustness of Integrated GaN Devices
    Wang, Wei-Cheng ; Ker, Ming-Dou
    In: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024-04-15, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Test Structures of Cross-Domain Interface Circuits with Deep N-Well Layout to Improve CDM ESD Robustness
    Huang, Huai-Min ; Ker, Ming-Dou
    In: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024-04-15, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Practical Considerations on ESD Testing
    Li, Xunyu ; Hao, Weiquan ; et al.
    In: 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), 2024-04-22, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MLESD: Machine Learning Assisted Faster On-Chip ESD Convergence Strategy
    Nishad, Sashank ; Kundu, Santanu ; et al.
    In: 2024 37th International Conference on VLSI Design and 2024 23rd International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2024-01-06, S. 281-286
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    High-Voltage ESD Protection Devices With High Robustness of 13 kV and Strong Radiation Tolerance up to 200 krad(Si)
    Duan, Y. ; Li, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3518-3524
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A High-Voltage/High-Speed Human-Body-Model ESD Simulator Using SiC MOSFET
    Sun, J. ; Shu, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-06-01), Heft 6, S. 1056-1059
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Modified Low-Voltage Triggered Silicon-Controlled Rectifier for ESD Protection
    Yang, Z. ; Qi, C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-05-01), Heft 5, S. 746-749
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Passive Hybrid Circuit Model for Electrostatic Discharge (ESD) Characterization
    Wang, Y. ; Yang, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 2301-2308
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Optimized PNP ESD Protection Device With Adjustable Trigger and Holding Voltages for High-Voltage Applications
    Qian, L. ; Wang, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3540-3545
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Robustness-Improved ESD Protection Devices With Low Leakage Using Middle Silicon Layer in Double SOI Technology
    Zhang, C. ; Li, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3504-3509
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design of High-Robustness LDO Regulator With Floating SCR Based ESD Protection Circuit Using High Gain Buffer
    Kwon, S. ; Do, K. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 33555-33568
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A GaN Lateral Bidirectional ESD Clamp Based on the Floating-Gate MBS and a Regulating Capacitor
    Liu, C. ; Shi, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 510-515
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    All-Directional Silicon-Controlled Rectifier With Improved Voltage Clamping Capability for FinFET ESD Protection
    Du, F. ; Xie, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 2247-2252
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    On the Multifinger Turn-On Instability in Drain Extended Vertically Stacked Nanosheet FETs Under ESD Stress Conditions
    Jatin, . ; Monishmurali, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 983-990
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Compact Models for Simulation of On-Chip ESD Protection Networks
    Rosenbaum, E. ; Huang, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 151-166
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of pHEMT based MMIC frequency multiplier with On-Chip ESD Protection
    Menon, Rahul R ; Valke, Suman R ; et al.
    In: 2023 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), 2023-12-11, S. 1-4
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A High Holding Voltage Diode-Triggered SCR for Low-Voltage ESD Application
    Park, Sora ; Choi, Yoonseo ; et al.
    In: 2024 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2024-01-28, S. 1-3
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Modified ESD Generator to Emulate Body Worn Equipment ESD and Human Skin ESD
    Becanovic, Nikola ; Fellner, Gabriel ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Deep Neural Decision Forests for Accurate ESD Prediction: A Novel Approach
    Desai, Dhyani Dhaval ; Mittapalli, Jishnu Saurav ; et al.
    In: 2023 2nd International Conference on Automation, Computing and Renewable Systems (ICACRS), 2023-12-11, S. 1194-1201
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design of Bi-Directional ESD Protection Circuit With Uni-Directional ESD Device in BCD Technology
    Hsu, C. ; Ker, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5028-5035
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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