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    Bivariate Fay-Herriot Model for Enhanced Small Area Estimation of Growing Stock Volume
    Georgakis, Aristeidis ; Papageorgiou, Vasileios E. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Applied Mathematics & Computer Science (ICAMCS), 2023-08-08, S. 162-168
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Influence of Handwriting and Word-Processing on Creativity in the Fiction Production: A Case Study of Fay Weldon's Fictions
    Yang, Hongji ; Liu, Tian
    In: 2021 IEEE 21st International Conference on Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C), 2021-12-01, S. 1145-1152
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Concept for a Decentralized Tactical Conflict Management in a U-space Ecosystem
    von Roenn, Luca ; Hackel, Timo ; et al.
    In: 2024 New Trends in Civil Aviation (NTCA), 2024-04-25, S. 59-66
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Dynamic Causal Analysis with Operator-Centric Visualization for Managing Industrial Alarm Floods
    Manca, Gianluca ; Kunze, Franz C. ; et al.
    In: 2023 IEEE 2nd Industrial Electronics Society Annual On-Line Conference (ONCON), 2023-12-08, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Experimental Setup for the Evaluation of Optimization Strategies for Flexible Energy Resources
    Reinpold, Lasse Matthias ; Peter Wagner, Lukas ; et al.
    In: 2023 IEEE 2nd Industrial Electronics Society Annual On-Line Conference (ONCON), 2023-12-08, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Design Patterns for Optimization Models of Flexible Energy Resources
    Wagner, Lukas Peter ; Reinpold, Lasse Matthias ; et al.
    In: 2023 IEEE 2nd Industrial Electronics Society Annual On-Line Conference (ONCON), 2023-12-08, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Dynamic Analysis of Evolving Industrial Alarm Floods Using an Adaptive Causal Directed Graph
    Kunze, Franz C. ; Fay, Alexander
    In: 2023 IEEE 2nd Industrial Electronics Society Annual On-Line Conference (ONCON), 2023-12-08, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Assessment of Respondents’ Responses in Advancing Quantitative Key Performance Indicators for Construction Project Management Systems: Utilization of Neural Network Fitting and Clustering
    Marcos, Christ John L. ; Magundayao, Justine Ray C. ; et al.
    In: 2023 IEEE 8th International Conference on Recent Advances and Innovations in Engineering (ICRAIE), 2023-12-02, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Changes in the Editorial Board
    Fay, P.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 2841-2843
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A D-band Frequency-Doubling Distributed Amplifier Through Monolithic Integration of SiC SIW and GaN HEMTs
    Li, Lei ; Li, Tianze ; et al.
    In: 2023 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), 2023-12-05, S. 485-487
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A D-Band Frequency-Doubling Traveling-Wave Amplifier Through Monolithic Integration of a SiC SIW and GaN HEMTs
    Li, L. ; Fay, P. ; et al.
    In: IEEE Journal of Microwaves, Jg. 4 (2024), Heft 1, S. 158-166
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Python Framework for Robot Skill Development and Automated Generation of Semantic Descriptions
    Vieira Da Silva, Luis Miguel ; Kocher, Aljosha ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    MBSE Modeling Workflow for the Development of Automated Aircraft Production Systems
    Beers, Lasse ; Weigand, Maximilian ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-8
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Unambiguous Interpretation of IEC 60848 GRAFCET based on a Literature Review
    Mros, Robin ; Schnakenbeck, Aron ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Toward a Mapping of Capability and Skill Models using Asset Administration Shells and Ontologies
    Da Silva, Luis Miguel Vieira ; Kocher, Aljosha ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-4
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Towards a domain-specific refinement of Process Orchestration Layers for Modular Electrolysis Plants
    Scholz, Lena ; Henkel, Vincent ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-4
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Integrating Interdependencies in Semantic Manufacturing Process Description Models
    Jeleniewski, Tom ; Reif, Jonathan ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-4
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Integration of Domain Expert-Centric Ontology Design into the CRISP-DM for Cyber-Physical Production Systems
    Gill, Milapji Singh ; Westermann, Tom ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Structural Analysis of GRAFCET Control Specifications
    Schnakenbeck, Aron ; Mros, Robin ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-8
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    An Approach to Automating the Generation of Process Simulation Sequences
    Reif, Jonathan ; Jeleniewski, Tom ; et al.
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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