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    Characterization and modeling of mismatch in Cryo-CMOS
    't Hart, P.A. ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), Heft 1
    serialPeriodical
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    Load-Modulation-Based IMD3 Cancellation for Millimeter-Wave Class-B CMOS Power Amplifiers Achieving EVM < 1.2%
    Pashaeifar, M. ; e Vreede, L.C.N. ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 32 (2022), Heft 6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS Image Sensor for Lateral Flow Immunoassay Readers
    Pilavaki, Evdokia ; Valente, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems Part 2: Express Briefs, Jg. 62 (2018), Heft 10
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of mm-Wave Multi-Stage Rectifier and Implementation
    Fang, Yun ; Hong, Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 70 (2022-10-01), Heft 10, S. 4491-4501
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Volltext
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    High-Power Digital Transmitters for Wireless Infrastructure Applications (A Feasibility Study)
    Bootsman, R.J. ; Mul, D.P.N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 70 (2022), Heft 5
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Case Study of a Global Shutter CIS--Part 1: Angular Dependency of the Light Sensitivity
    Theuwissen, A.J.P.A.M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022), Heft 6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Neural-Network Decoders for Quantum Error Correction Using Surface Codes: A Space Exploration of the Hardware Cost-Performance Tradeoffs
    Overwater, R.W.J. ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Quantum Engineering, Jg. 3 (2022)
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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    Balanced ternary addition using a gated silicon nanowire
    Mol, J.A. ; Van der Heijden, J. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, 99 (26), 2011, 2011-12-29
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    A Bypassable Scan Flip-Flop for Low Power Testing with Data Retention Capability
    Cao, Xugang ; Jiao, Hailong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 69 (2022-02-01), Heft 2, S. 554-558
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Advances in Magnetics Roadmap on Spin-Wave Computing
    Blanter, Y.M. ; Carmiggelt, J.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Magnetics, Jg. 58 (2022), Heft 6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A supply pushing reduction technique for LC oscillators based on ripple replication and cancellation
    Chen, Yue ; Liu, Yao Hong ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 54 (2019), Heft 1, S. 240-252
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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    Electrostatic Doping in Semiconductor Devices
    Gupta, Gaurav ; Rajasekharan, Bijoy ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), Heft 8, S. 3044-3055
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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