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    Characterization and Modeling of Self-Heating in Nanometer Bulk-CMOS at Cryogenic Temperatures
    't Hart, P.A. ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021)
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Reduction of 1/f Noise by Switched Biasing: an Overview
    Klumperink, Eric ; van der Wel, Arnoud ; et al.
    In: 16th Workshop on Circuits, Systems and Signal Processing, ProRISC 2005, 2005-11-01, S. 307-315
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    On device architectures, subthreshold swing, and power consumption of the piezoelectric field-effect transistor (π-FET)
    Hueting, Raymond Josephus Engelbart ; van Hemert, T. ; et al.
    In: Journal of the Electron Devices Society, Jg. 3 (2015-04-22), Heft 3, S. 149-157
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A sub-1-V Bandgap Voltage Reference in 32nm FinFET Technology
    Annema, Anne J. ; Veldhorst, P. ; et al.
    In: IEEE International Solid-State Circuits Conference, 2009-02-08, S. 332-333
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Modeling Random Telegraph Noise Under Switched Bias Conditions Using Cyclostationary RTS Noise
    van der Wel, A.P. ; Klumperink, Eric A.M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 50 (2003-05-01), Heft 5, S. 1378-1384
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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