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  1. Polidori, Elisabetta ; Camisa, Giovanni ; et al.
    In: 2022 IEEE International Conference on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE), 2022-10-28, S. 187-192
    Online Konferenz
  2. Bhat, Anoop Narayan ; van der Zee, Ronan A.R. ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 57 (2022-05-01), Heft 5, S. 1432-1445
    Online serialPeriodical
  3. Pourmousavian, Naser ; Kuo, Feng Wei ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid State Circuits, Jg. 53 (2018), Heft 9
    Online serialPeriodical
  4. Gao, Z. ; He, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid State Circuits, Jg. 58 (2023), Heft 6
    Online serialPeriodical
  5. Zhang, Yijing ; Xu, Lin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biomedical Engineering, Jg. 70 (2023-02-01), Heft 2, S. 501-510
    Online serialPeriodical
  6. Chen, Y. ; Gong, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid State Circuits, Jg. 57 (2022), Heft 6
    Online unknown
  7. Wijburg, R.C.M. ; Hemink, G.J. ; et al.
    In: ESSDERC '89, 1989, S. 915-918
    Online Konferenz
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