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    Probing Dark Current Random Telegraph Signal in a Small Pitch Vertically Pinned Photodiode CMOS Image Sensor after Proton Irradiation
    Antonsanti, Aubin ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 1 (2022-03-17)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Low power SEU immune CMOS memory circuits
    Liu, M. N ; Whitaker, Sterling
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 39 (1992-12-01), Heft 6 pt
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Bench-level characterization of a CMOS standard-cell D-latch using alpha-particle sensitive test circuits
    Blaes, B. R ; Soli, G. A ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 38 (1991-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Verification of a SEU model for advanced 1-micron CMOS structures using heavy ions
    Cable, J. S ; Carter, J. R ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-33 (1986-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs
    Stassinopoulos, E. G ; Brucker, G. J ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 36 (1989-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    A CMOS matrix for extracting MOSFET parameters before and after irradiation
    Blaes, B. R ; Buehler, M. G ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 35 (1988-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Experimental evidence for a new single-event upset (SEU) mode in a CMOS SRAM obtained from model verification
    Zoutendyk, J. A ; Smith, L. S ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-34 (1987-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Discovery of heavy-ion induced latchup in CMOS/epi devices
    Nichols, D. K ; Price, W. E ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-33 (1986-12-01)
    Online report
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    Hardening of commercial CMOS PROMs with polysilicon fusible links
    Newman, W. H ; Rauchfuss, J. E
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-32 (1985-12-01)
    Online report
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    Latchup in CMOS devices from heavy ions
    Soliman, K ; Nichols, D. K
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-30 (1983-12-01)
    Online report
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An analytical method for predicting CMOS SRAM upsets with application to asymmetrical memory cells
    Buehler, Martin G ; Allen, Richard A
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-33 (1986-12-01)
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    Ionizing Radiation Effects on Hole Collection Backside-Illuminated P-Type Deep-Trench Pinned Photo-MOS Pixels under Image Acquisition
    Antonsanti, Aubin ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-04)
    Online report
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Threats to Resiliency of Redundant Systems Due to Destructive SEE
    Ladbury, R. ; Bay, Michael ; et al.
    In: NASA Electronic Parts and Packaging (NEPP) Program, 2020-11-29
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Radiation dependence of inverter propagation delay from timing sampler measurements
    Buehler, M. G ; Blaes, B. R ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 36 (1989-12-01)
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    A summary of JPL single event upset test data from May 1982, through January 1984
    Nichols, D. K ; Price, W. E ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. NS-31 (1984-12-01)
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    Hardening Of MJS77 Spacecraft against the Jupiter Radiation Belts
    W E Price ; A G Stanley
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 22 (1975-12-01), Heft 6
    Online report
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Observation of radiation induced changes in stress and electrical properties in MOS devices
    Shaw, D. C ; Lowry, L ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 39 (1992-12-01), Heft 6, pt
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An observation of proton-induced latchup
    Nichols, Donald K ; Coss, James R ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 39 (1992-12-01), Heft 6, pt
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    Update on parts SEE suspectibility from heavy ions
    Nichols, D. K ; Smith, L. S ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 38 (1991-12-01)
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    SEU hardened memory cells for a CCSDS Reed-Solomon encoder
    Whitaker, Sterling ; Canaris, John ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 38 (1991-12-01)
    Online report
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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