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    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    A del Moral ; Amat, E ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 37 (2022-11-15), S. 125014-125014
    Online unknown
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    Strategy to mitigate single event upset in 14-nm CMOS bulk FinFET technology
    Zhen-Yu, Wu ; Pei-Xiong, Zhao ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 31 (2022-04-01), S. 056106-56106
    Online unknown
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    Additive 3D photonic integration that is CMOS compatible
    Grabulosa, Adrià ; Moughames, Johnny ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 34 (2023-05-24), S. 322002-322002
    Online unknown
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    Low-power and high-resolution capacitance sensing using CMOS inverter-based RC oscillator by employing voltage-integration feedback
    Li, Zixuan ; Lee, Sangyeop ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 62 (2023-03-27), S. SC1096
    Online unknown
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    Development of CMOS dosimetry in proton minibeams for enhanced QA and primary standard absorbed dose calorimetry
    Flynn, Samuel ; Allport, Philip ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023-03-01), S. P03014
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    CMOS pixel architectures
    Konstantin D Stefanov
    2022
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    CMOS Image Sensors
    Stefanov, Konstantin
    2022
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    High spatial resolution direct conversion amorphous selenium X-ray detectors with monolithically integrated CMOS readout
    Han, Z. ; Mukherjee, A. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023-04-01), S. P04021
    Online unknown
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    CMOS image sensors in ISSCC 2023
    Feng, Peng ; Wu, Nanjian ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 44 (2023-04-01), S. 040202-40202
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO2/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    J von Borany ; Engelmann, H-J ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 38 (2023-03-28), S. 055011-55011
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Analysis of Three-Stage LNA Architecture for CMOS RF Front End
    Sathya, R ; Ambulker, Sunanda
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 2466 (2023-03-01), S. 012017-12017
    Online unknown
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    Memristive-based in-memory computing: from device to large-scale CMOS integration
    E Perez-Bosch Quesada ; Perez, Eduardo ; et al.
    In: Neuromorphic Computing and Engineering, Jg. 1 (2021-11-18), S. 024006-24006
    Online unknown
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    Research on performances of back-illuminated scientific CMOS for astronomical observations
    Zheng, Jie ; Wang, Jian-Feng ; et al.
    In: Research in Astronomy and Astrophysics, Jg. 21 (2021-11-01), S. 268-268
    Online unknown
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    IMPLEMENTATION OF ELECTRONIC DEVICES OF CMOS FULL ADDER IN LOW POWER VLSI CIRCUITS
    Durgaprasadarao, P. ; K.V. Daya Sagar
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 2089 (2021-11-01), S. 012081-12081
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Research and Design of X-band Low Noise Amplifier Based on CMOS Process
    Ma, Chao ; Sun, Haitao ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 2108 (2021-11-01), S. 012102-12102
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Total ionizing dose effects on ring-oscillators and SRAMs in a commercial 28 nm CMOS technology
    Borghello, G. ; Bergamin, G. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023-02-01), S. C02003
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Single-event effects calibration using two-photon absorption and a CMOS image sensor
    Blommaert, D. ; Leroux, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023-02-01), S. C02043
    Online unknown
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    A flexible retinal device with CMOS smart electrodes fabricated on parylene C thin-film and bioceramic substrate
    Pan, Kaige ; Hagiwara, Takanori ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 62 (2023-01-18), S. SC1022
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    Fab-to-fab and run-to-run variability in 130 nm and 65 nm CMOS technologies exposed to ultra-high TID
    Termo, G. ; Borghello, G. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023), S. C01061
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    Design and preliminary results of a shunt voltage regulator for a HV-CMOS sensor in a 150 nm process
    Powell, S. ; Hammerich, J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 18 (2023), S. C01009
    Online unknown
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