Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- circuit properties 12 Treffer
- circuits electriques, optiques et optoelectroniques 12 Treffer
- circuits electroniques 12 Treffer
- complementary mos technology 12 Treffer
- electric, optical and optoelectronic circuits 12 Treffer
-
45 weitere Werte:
- electronic circuits 12 Treffer
- proprietes des circuits 12 Treffer
- technologie mos complementaire 12 Treffer
- tecnologia mos complementario 12 Treffer
- circuit integre cmos 5 Treffer
- cmos integrated circuits 5 Treffer
- convertisseurs de signal 5 Treffer
- evaluacion prestacion 5 Treffer
- evaluation performance 5 Treffer
- oscillateurs, resonateurs, synthetiseurs 5 Treffer
- oscillators, resonators, synthetizers 5 Treffer
- performance evaluation 5 Treffer
- signal convertors 5 Treffer
- circuit integre 4 Treffer
- circuit integre radiofrequence 4 Treffer
- circuito integrado 4 Treffer
- integrated circuit 4 Treffer
- radiofrequency integrated circuits 4 Treffer
- transistors 4 Treffer
- cmos 3 Treffer
- commande tension 3 Treffer
- control tension 3 Treffer
- convertidor frecuencia 3 Treffer
- convertisseur frequence 3 Treffer
- current gain 3 Treffer
- dispositif microelectromecanique 3 Treffer
- dispositifs micro- et nanoelectromecaniques (mems/nems) 3 Treffer
- dispositivo microelectromecanico 3 Treffer
- diviseur frequence 3 Treffer
- divisor frecuencia 3 Treffer
- estructura suspendida 3 Treffer
- filtres de frequence 3 Treffer
- frecuencia resonancia 3 Treffer
- frequence resonance 3 Treffer
- frequency converter 3 Treffer
- frequency divider 3 Treffer
- frequency filters 3 Treffer
- gain courant 3 Treffer
- ganancia corriente 3 Treffer
- micro- and nanoelectromechanical devices (mems/nems) 3 Treffer
- microactionneur 3 Treffer
- microactuator 3 Treffer
- microactuators 3 Treffer
- microelectromechanical device 3 Treffer
- output voltage 3 Treffer
Verlag
Sprache
14 Treffer
-
In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1241-1250KonferenzZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 10-11, S. 1057-1063academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 95-103academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 6-7, S. 672-677academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 23 (1992), Heft 6, S. 479-481academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 3, S. 527-534academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 10, S. 1128-1135academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 10, S. 1124-1135academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 12, S. 1257-1262academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 8-9, S. 828-833academicJournalZugriff:
-
In: International mixed signal testing workshop, Jg. 33 (2002), Heft 10, S. 835-846KonferenzZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 6, S. 827-836academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 422-431academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 20-25academicJournalZugriff: