Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
6 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Sprache

6 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A new TCAD simulation method for direct CMOS electron detectors optimization
    Marcelot, O. ; Marcelot, C. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 243 (2023)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Comparison of detection limits of direct-counting CMOS and CCD cameras in EELS experiments
    Haruta, Mitsutaka ; Kikkawa, Jun ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 240 (2022-10-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Implementation and operation of a fiber-coupled CMOS detector in a low energy electron Microscope
    Janoschka, D. ; Dreher, P. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 221 (2021-02-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Holographic voltage profiling on 75 nm gate architecture CMOS devices
    Thesen, Alexander E. ; G. Frost, Bernhard ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 94 (2003), Heft 3, S. 277-281
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Nanochemical surface analyzer in CMOS technology
    Franks, W ; Lange, D ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 91 (2002), Heft 1, S. 21-27
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Evaluation of the probing profile of scanning force microscopy tips
    Sheiko, S.S. ; Möller, M. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 53 (1994), Heft 4, S. 371-380
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -