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    Investigation of dual work function metal (DWFM) gate stacks with ALD TaAlN and TaAlC for multi threshold voltages (VTHs) engineering in MOS device integration
    Choi, Moonsuk ; Sim, Jihyeon ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 176 (2024-06-15)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Impact of work function metal stacks on the performance and reliability of multi-Vth RMG CMOS technology
    Franco, J. ; Arimura, H. ; et al.
    In: Solid State Electronics, Jg. 216 (2024-06-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Preconditioning of Ohmic p-GaN power HEMT for reproducible Vth measurements
    Ghizzo, L. ; Trémouilles, D. ; et al.
    In: Solid State Electronics, Jg. 214 (2024-04-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Origin and Recovery of Negative VTH Shift on 4H–SiC MOS Capacitors: An Analysis Based on Inverse Laplace Transform and Temperature-Dependent Measurements
    Marcuzzi, A. ; Avramenko, M. ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 177 (2024-07-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Modelling SiC MOSFET module threshold voltage (VTH) and impact of parallel device ΔVTH on short circuit robustness
    Deb, A. ; Gonzalez, J. Ortiz ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 150 (2023-11-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Modeling and simulation of an insulated-gate HEMT using p-SnO2 gate for high VTH design
    Yi, Bo ; Xu, Yi ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 139 (2023-09-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Preconditioning of p-GaN power HEMT for reproducible Vth measurements
    Ghizzo, L. ; Trémouilles, D. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 144 (2023-05-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
    Modolo, N. ; Fregolent, M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 138 (2022-11-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Investigation of the passivation-induced VTH shift in p-GaN HEMTs with Au-free gate-first process
    Tang, Shun-Wei ; Huang, Zhen-Hong ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 122 (2021-07-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Endoparasites in dogs and cats diagnosed at the Veterinary Teaching Hospital (VTH) of the University of Prince Edward Island between 2000 and 2017. A large-scale retrospective study
    Morandi, Benedetto ; Greenwood, Spencer J. ; et al.
    In: Preventive Veterinary Medicine, Jg. 175 (2020-02-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Correlation between spin density and Vth instability of IGZO thin-film transistors
    Park, Jee Ho ; Lee, Sohyung ; et al.
    In: Current Applied Physics, Jg. 18 (2018-11-01), Heft 11, S. 1447-1450
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    VTH subthreshold hysteresis technology and temperature dependence in commercial 4H-SiC MOSFETs
    Asllani, Besar ; Fayyaz, Asad ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 88-90 (2018-09-01), S. 604-609
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SRAM devices and circuits optimization toward energy efficiency in multi-Vth CMOS
    Wang, Bo ; Zhou, Jun ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 46 (2015-03-01), Heft 3, S. 265-272
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Influence of La on the electrical properties of HfSiON: From diffusion to Vth shifts
    Hackenberg, M. ; Pichler, P. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 109 (2013-09-01), S. 200-203
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Vg,max − Vth: A new electrical characterization parameter reflecting the polysilicon film quality of LTPS TFTs
    Moschou, Despina C. ; Farmakis, Filippos V. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 90 (2012-02-01), S. 76-78
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CMOS compatible dual metal gate integration with successful Vth adjustment on high- k HfTaON by high-temperature metal intermixing
    Ren, C. ; Chan, D.S.H. ; et al.
    In: Solid State Electronics, Jg. 51 (2007), Heft 11, S. 1479-1484
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Vth International Conference on Topical Problems of Continuum Mechanics with a special session in honour of Alexander Manzhirov's 60th birthday 2–7 October 2017, Tsaghkadzor, Armenia
    In: Journal of Applied Mathematics and Mechanics, Jg. 80 (2016), Heft 6, S. 527-527
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record from ScienceDirect (Volltext)
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Fractures of the base of Vth metatarsal—should we treat them?
    Kakkar, R. ; Akimau, P. ; et al.
    In: Injury Extra, Jg. 41 (2010-12-01), Heft 12, S. 184-184
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    ‘Hand transplantation and composite tissue allograft’ Vth International Symposium
    In: Journal of Biomechanics, Jg. 36 (2003), Heft 10, S. 1581-1581
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Vth IAG - European region congress of gerontology
    In: Revista Espanola de Geriatria y Gerontologia, Jg. 37 (2002), Heft 6, S. 353-354
    academicJournal
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