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    9.2.3 References for 9.2 : 9.2 Scanning tunneling microscopy (STM)
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Hamers, R. J. ; et al.
    1996
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    9.2.1.5 Limitations and continued development of STM : 9.2.1 Introduction
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Hamers, R. J. ; et al.
    1996
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    9.2.1.1 Principles and experimental implementation of STM : 9.2.1 Introduction
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Hamers, R. J. ; et al.
    1996
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    9.2.1.2 Interpretation of STM images : 9.2.1 Introduction
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Hamers, R. J. ; et al.
    1996
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
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    2.2.2 Au, Gold : Scanning tunneling microscopy of metals
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    2.2.1 Ag, Silver : Scanning tunneling microscopy of metals
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    3.2 Lateral manipulation : Manipulation of surfaces with the methods of scanning probe microscopy
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    3.10 Manipulation of surfaces with the methods of scanning probe microscopy: Data : Physics of Solid Surfaces
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Si, Ge, and SiGe quantum wires and quantum dots
    Kasper, E. [Ed.] ; Klingshirn, C. [Ed.] ; et al.
    2007
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    2.2.4 Cu, Copper : Scanning tunneling microscopy of metals
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    2.3.14 Si, Silicon : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    3.3 Vertical manipulation and desorption : Manipulation of surfaces with the methods of scanning probe microscopy
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    3.6 Manipulation on insulators : Manipulation of surfaces with the methods of scanning probe microscopy
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    2.2.6 Ir, Iridium : Scanning tunneling microscopy of metals
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    2.2.3 Cr, Chromium : Scanning tunneling microscopy of metals
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    2.3.10 Ge, Germanium : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    2.3.15 SiC, Silicon Carbide : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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    2.3.11 InAs, Indium Arsenide : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    2.3.6 GaAs, Gallium Arsenide : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    2.3.7 GaN, Gallium Nitride : Scanning tunneling microscopy of semiconductor
    Chiarotti, G. [Ed.] ; Chiaradia, P. [Ed.] ; et al.
    2015
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