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    Nanogap CMOS-MEMS Pirani Gauge Based on Titanium-Nitride Heating Element for Broad-Range Vacuum Characterization
    Garg, Manu ; Singh, Pushpapraj ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 1214-1219
    Online serialPeriodical
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    High-Density Embedded 3-D Stackable Via RRAM in 16-nm FinFET CMOS Logic Process
    Huang, Yao-Hung ; Hsieh, Yu-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 6, S. 3614-3619
    Online serialPeriodical
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    Demonstration of >8-kV GaN HEMTs With CMOS-Compatible Manufacturing on 6-in Sapphire Substrates for Medium-Voltage Applications
    Li, Xiangdong ; Zhang, Jie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 6, S. 3989-3993
    Online serialPeriodical
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    Implementing Remote Doping and Suppressed Scattering in MoS₂ Field-Effect Transistor Using CMOS-Compatible Process
    Ma, Weiming ; Zhang, Tianjiao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 5, S. 3315-3321
    Online serialPeriodical
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    Hybrid CMOS-Ferroelectric FET-Based Image Sensor With Tunable Dynamic Range
    Jain, Munoon ; Singh, Rahul Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 624-629
    Online serialPeriodical
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    Memristor-Inspired Digital Logic Circuits and Comparison With 90-/180-nm CMOS Technologies
    Nawaria, Megha ; Kumar, Sanjay ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 301-307
    Online serialPeriodical
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    Complex Design of CMOS Logic With Tolerance to Particle and Cumulative Radiation
    Lee, Minwoong
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 440-447
    Online serialPeriodical
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    CMOS-Compatible Embedded Artificial Synaptic Device (eASD) for Neuromorphic Computing and AI Applications
    Huang, Yao-Hung ; Yu, Hsin-Yuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 1313-1319
    Online serialPeriodical
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A 1.2 V Single Event Multinode Upset Tolerant RHSC 12T Memory Cell in 65-nm CMOS
    Dohar, Suraj Singh ; R. K., Siddharth ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 1054-1059
    Online serialPeriodical
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    RTS Noise Reduction in CMOS Image Sensors Using Correlated Extrema Cancellation
    Bhattacharya, Abhinav ; Tanya, Tusha ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 5, S. 3050-3055
    Online serialPeriodical
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On-Chip Fully Integrated Thermoelectric Devices Designed on Standard CMOS Process
    Sugiura, Takaya ; Watanabe, Yuta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-12-01), Heft 12, S. 6534-6539
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Power-Line-Triggered ESD Protection SCR for 0–20 GHz Applications in CMOS Technology
    Chang, Chun-Rong ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-12-01), Heft 12, S. 6103-6109
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    Novel Low Thermal Budget CMOS RMG: Performance and Reliability Benchmark Against Conventional High Thermal Budget Gate Stack Solutions
    Franco, J. ; Arimura, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-12-01), Heft 12, S. 6658-6664
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis of Airgaps for OFF-State Capacitance Reduction in SOI-CMOS RF Switches
    Gheysens, Daniel ; Fleury, Alain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-11-01), Heft 11, S. 5814-5817
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    200-mm Si CMOS Process-Compatible Integrated Passive Device Stack for Millimeter-Wave Monolithic 3-D Integration
    Park, Minsik ; Song, Jonghyun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5257-5264
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    β-Ga<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript> Pseudo-CMOS Monolithic Inverters
    Chettri, Dhanu ; Mainali, Ganesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5051-5056
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    Wide Temperature Range Modeling of Implanted Resistors Based on 4H-SiC CMOS Process
    Yang, Wenhao ; Sun, Yuyin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 6, S. 3575-3581
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Full-Oxide CMOS Operational Amplifier Based on n-Type IGZO and p-Type SnO Thin-Film Transistors
    Zhuang, Mingyu ; Wang, Mingyang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 6, S. 3691-3696
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    Electrical Stress on the CMOS Inverters Made by Junctionless Gate-All-Around Transistors
    Chang, Wen-Teng ; Yang, Chia-Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 5, S. 2863-2868
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Experimental Analysis and Modeling of Self-Heating and Thermal Coupling in 28 nm FD-SOI CMOS Transistors Down to Cryogenic Temperatures
    Bergamaschi, Flavio Enrico ; Frutuoso, Tadeu Mota ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 2598-2604
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xs 0 - 576
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