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    Characterization of a 28 nm CMOS Technology for Analog Applications in High Energy Physics
    Traversi, G. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 932-940
    Online serialPeriodical
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    Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology
    Shen, Fan ; Chen, Jianjun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 793-801
    Online serialPeriodical
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    Alpha Particle-Induced Persistent Effects in a COTS 3-D-Integrated CMOS Imager
    Hu, M. D. ; McCurdy, M. W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 759-769
    Online serialPeriodical
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Online Dark Count Rate Measurements in 150 nm CMOS SPADs Exposed to Low Neutron Fluxes
    Ratti, L. ; Brogi, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 698-709
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    Effect of Proton Energy and Bias Conditions During Irradiation on CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Jouni, Ali ; Malherbe, Victor ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 710-718
    Online serialPeriodical
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    MiniCACTUS: A 65 ps Time Resolution Depleted Monolithic CMOS Sensor
    Degerli, Yavuz ; Guilloux, Fabrice ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-11-01), Heft 11, S. 2471-2478
    Online serialPeriodical
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    Fully Integrated Constant Fraction Discriminators (CFDs): Two Implementations in Submicrometer CMOS Technologies
    Garbolino, Sara ; Martoiu, Sorin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 2218-2225
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    The Propagation of Extended SET Tails in RF Amplifiers Using 45-nm CMOS on PDSOI
    Teng, Jeffrey W. ; Ringel, Brett L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 1829-1837
    Online serialPeriodical
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    Calibration of the Deposited Energy in CMOS Imagers for Particle Detection on Nanosatellites
    Florczak, Josua ; Neubert, Tom ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 1966-1972
    Online serialPeriodical
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    A Compact Front-End Circuit for a Monolithic Sensor in a 65-nm CMOS Imaging Technology
    Piro, F. ; Rinella, G. Aglieri ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 2191-2200
    Online serialPeriodical
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    Capacitive Deep Trench Isolation-Based CCD-on-CMOS Image Sensor Sensitivity to Total Ionizing Dose
    Salih Alj, Antoine ; Touron, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 2018-2026
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Study of Proton-Induced Defects in 40-nm CMOS SPADs
    Jouni, Ali ; Malherbe, Victor ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 1680-1686
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    Physics-Based Analytical Formulation of the Soft Error Rate in CMOS Circuits
    Autran, Jean-Luc ; Munteanu, Daniela
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 5, S. 782-791
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    Proton-Induced Displacement Damages in 2-D and Stacked CMOS SPADs: Study of Dark Count Rate Degradation
    Jouni, Ali ; Sicre, Mathieu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 4, S. 515-522
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A 14-Gb/s VCSEL Driver in 65-nm CMOS With a Power-Efficient Driving Structure for Particle Physics Experiments
    Chen, Qiangjun ; Sun, Quan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 6, S. 1001-1006
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design and Characterization of a Picosecond Timing ASIC in 55-nm CMOS
    Lu, Bo ; Huo, Jia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 6, S. 1230-1239
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A comparison of methods for total dose testing of bulk CMOS and CMOS/SOS devices
    Baze, M.P. ; Plaag, R.E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 37 (1990-12-01), Heft 6, S. 1818-1824
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The latchup risk of CMOS-technology in space
    Moreau, Y. ; de la Rochette, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 40 (1993-12-01), Heft 6, S. 1831-1837
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    MTD132-a new subnanosecond multi-hit CMOS time-to-digital converter
    Kleinfelder, S. ; Majors, J.T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 38 (1991), Heft 2, S. 97-101
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A low-noise, wide-band CMOS charge-sensitive preamplifier for use with APD/LSO PET detectors
    Paulus, M.J. ; Rochelle, J.M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 43 (1996), Heft 3, S. 1666-1671
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