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    Review--System-on-Chip SMO Gas Sensor Integration in Advanced CMOS Technology.
    Filipovic, Lado ; Lahlalia, Ayoub
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 165 (2018-12-15), Heft 16, S. B862- (18S.)
    academicJournal
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    High Doping Density/High Electric Field, Stress and Heterojunction Effects on the Characteristics of CMOS Compatible p-n Junctions.
    Simoen, E. ; Eneman, G. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 158 (2011-05-01), Heft 5, S. R27- (10S.)
    academicJournal
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    Electroless Gold Plating on Aluminum Patterned Chips. for CMOS-Based Sensor Applications.
    Ko, Jung Woo ; Koo, Hyo Chol ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 157 (2010), Heft 1, S. D46- (4S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    3D Interconnect Process Integration and Characterization of Back Side Illuminated CMOS Image Sensor with 1.75 μm Pixels.
    Sung Gyu Pyo ; Park, S. H. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 156 (2009-06-01), Heft 6, S. J143- (5S.)
    academicJournal
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    Phase Change Random Access Memory Devices with Nickel Silicide and Platinum Suicide Electrode Contacts for Integration with CMOS Technology.
    Lina Wei-Wei Fang ; Zhao, Rong ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 158 (2011-03-01), Heft 3, S. H232- (7S.)
    academicJournal
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    Very High Performance CMOS on Si(551) Using Radical Oxidation Technology and Accumulation-Mode SOl Device Structure.
    Cheng, Weitao ; Teramoto, Akinobu ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 157 (2010-03-01), Heft 3, S. H389- (5S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Improvement of PECVD Silicon-Germanium Crystallization for CMOS Compatible MEMS Applications.
    Guo, Bin ; Seven, Simone ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 157 (2010-02-01), Heft 2, S. D103- (8S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Improved Poly Gate Engineering for 65 nm Low Power CMOS Technology.
    Hu, Chan-Yuan ; Chen, Jone F. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 157 (2010), Heft 1, S. H38- (6S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Plasma-Assisted Atomic Layer Deposition of Conductive Hafnium Nitride Using Tetrakis(ethylmethylamino)hafnium for CMOS Gate Electrode Applications.
    Consiglio, Steven ; Zeng, Wanxue ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 155 (2008-03-01), Heft 3, S. H196- (6S.)
    academicJournal
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    Scalability and Reliability Characteristics of CVD HfO<subscript>2</subscript> Gate Dielectrics with HfN Electrodes for Advanced CMOS Applications.
    Kang, J. F. ; Yu, H. Y. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 154 (2007-11-01), Heft 11, S. H927- (6S.)
    academicJournal
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    Influence of Defects on Activity-Stability of Cu<subscript>1.5</subscript>Mn<subscript>1.5</subscript>O<subscript>4</subscript> for AcidMediated Oxygen Evolution Reaction.
    Ghadge, Shrinath Dattatray ; Datta, Moni K. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 167 (2020-11-01), Heft 14, S. 849-860
    academicJournal
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    Epitaxial Bonding and Transfer Processes for Large-Scale Heterogeneously Integrated Electronic-Photonic Circuitry.
    Carlson, John A. ; Williams, Coleman G. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 166 (2019), Heft 1, S. D3158- (9S.)
    academicJournal
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    Polymer-Based Memory Structures on Copper Substrates.
    Yahyaie, Iman ; Khaper, Tanya ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 161 (2014-06-01), Heft 6, S. D367- (5S.)
    academicJournal
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    Spin-Based MOSFET and Its Applications.
    Saito, Y. ; Inokuchi, T. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 158 (2011-10-01), Heft 10, S. H1068- (9S.)
    academicJournal
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    Electrolyte-Insulator-Semiconductor pH Sensors with Arrayed Patterns Manufactured by Nano Imprint Technology.
    Tzu Nien Lee ; Chen, Henry J. H. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 165 (2018-11-01), Heft 14, S. B767- (6S.)
    academicJournal
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    Simulation and Fabrication of an Ultra-Low Power Miniature Microbridge Thermal Conductivity Gas Sensor.
    Mahdavifar, Alireza ; Aguilar, Ricardo ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 161 (2014-04-01), Heft 4, S. B55- (7S.)
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Thermal Stability of Thin Compressively Strained Ge Surface Channels Grown on Relaxed Si<subscript>0.2</subscript>Ge<subscript>0.8</subscript> Reverse-Graded Buffers.
    Dobbie, A. ; Van Huy Nguyen ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 159 (2012-05-01), Heft 5, S. H490- (7S.)
    academicJournal
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    In Situ HCl Etching of InP in Shallow-Trench-Isolated Structures.
    Orzali, T. ; Wang, G. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 159 (2012-04-01), Heft 4, S. H455- (5S.)
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Fabrication of GaAs-on-Insulator via Low Temperature Wafer Bonding and Sacrificial Etching of Ge by XeF<subscript>2</subscript>.
    Bai, Yu ; Cole, Garrett D. ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 159 (2012-02-01), Heft 2, S. H183- (8S.)
    academicJournal
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    FISH SOI MOSFET: Modeling, Characterization and Its Application to Improve the Performance of Analog ICs.
    Gimenez, Salvador Finiilos ; Alati, Daniel Manha ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 158 (2011-12-01), Heft 12, S. H1258- (7S.)
    academicJournal
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