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  1. Efavi, J K ; Lemme, Max C. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 354-359
    Online unknown
  2. Lemme, Max C. ; Efavi, J. K. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1551-1554
    Online unknown
  3. Wu, D. ; von Haartman, M. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 77 (2005), Heft 1, S. 36-41
    Online unknown
  4. Jayakumar, Ganesh ; Hellström, Per-Erik ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 212 (2019), S. 13-20
    Online unknown
  5. Collaert, N. ; Alian, A. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 132 (2015), S. 218-225
    Online unknown
  6. Westlinder, Jörgen ; Sjöblom, Gustaf ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 75 (2004), Heft 4, S. 389-396
    Online unknown
  7. Baus, M ; Lemme, Max C. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 73-4 (2004), S. 463-467
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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