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    The highest characterization potentialities of sub‐20 meV spatially resolved STEM‐EELS
    Marchhor, Katia ; Scarabellihor, Leonardo ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 967-968
    Nachschlagewerk
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    Investigating Surface Plasmon‐Enhanced Local Electric Fields by EELS with tunable meV Energy Resolution
    Abellanhor, Patricia ; El‐Khouryhor, Patrick Z. ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1136-1137
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    'Total' Ion Beam Analysis—3D Imaging of Complex Samples Using MeV Ion Beams
    Jeyneshor, Chris ; Elton N. Kaufmann [Ed.]
    In: Characterization of Materials, 2002-10-15, S. 1-12
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    MeV
    George P. Redei [Ed.]
    In: Encyclopedic Dictionary of Genetics, Genomics and Proteomics, 2004-07-15
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    MeV
    Richard J. Lewis [Ed.]
    In: Hawley's Condensed Chemical Dictionary, 2007-03-15, S. 846-846
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Morbilliviruses: Measles Virus
    Schneider‐Schaulieshor, Sibylle ; Bellinihor, William J. ; et al.
    In: Topley & Wilson's Microbiology and Microbial Infections, 2010-03-15, S. 32
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Effect of Alloying Content on the Defect Structure Formation and Evolution in the Ta‐W system
    Ipatovahor, Iuliia ; Jimenez‐Melerohor, Enrique ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 353-355
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Vibrational Spectroscopy in the Electron Microscope
    Krivanekhor, Ondrej ; Aokihor, Toshihiro ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 805-806
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Performances of aberration‐corrected monochromatic low‐voltage analytical electron microscope
    Mukaihor, Masaki ; Morishitahor, Shigeyuki ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 338-339
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Excitation and probing of hyperbolic phonon polaritons in hexagonal boron nitride structures by fast electrons
    Konečnáhor, Andrea ; Govyadinovhor, Alexander ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1142-1143
    Nachschlagewerk
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    Dynamic‐Transmission Electron Microscopy at the Relativistic Electron Gun for Atomic Exploration (REGAE) for live cell imaging
    Manzhor, Stephanie ; Keskinhor, Sercan ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 354-355
    Nachschlagewerk
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    Implementing electron energy‐gain spectroscopy in scanning transmission electron microscope
    Dashor, Pabitra ; Blazithor, Jean‐Denis ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 326-327
    Nachschlagewerk
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    Photon Activation Analysis
    Masumotohor, Kazuyoshi ; Segebadehor, Christian ; et al.
    In: Encyclopedia of Analytical Chemistry, 2006-09-15, S. 25
    Nachschlagewerk
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Modestobacter
    Normandhor, Philippe ; Bensonhor, David R. ; et al.
    In: Bergey's Manual of Systematics of Archaea and Bacteria, 2015-04-17, S. 1-4
    Nachschlagewerk
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Cobalt: Radionuclides
    Limahor, Enrique ; Robert A. Scott [Ed.]
    In: Encyclopedia of Inorganic and Bioinorganic Chemistry, 2011-12-15, S. 10
    Nachschlagewerk
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    Scanning Transmission Electron Microscopy Investigation of LaAlO3/SrTiO3 Bi‐Interfaces
    Tierihor, Giulio ; Gloterhor, Alexandre ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 992-993
    Nachschlagewerk
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    Design and realization of an ultrafast cold field emission source operating under high voltage
    Houdellierhor, Florent ; Giuseppe Mario Carusohor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 316-317
    Nachschlagewerk
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    Influence of grain boundary character on void formation in nanotwinned copper
    LaGrangehor, Thomas ; European Microscopy Society [Ed.]
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 217-218
    Nachschlagewerk
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    Systematic analysis of plasmon excitations and coupling by lithographic structure patterning and fast, monochromated STEM‐EELS mapping
    Flauraudhor, Valentin ; Bernasconihor, Gabriel ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1148-1149
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    High resolution EELS on individual carbon nanotubes by monochromated TEM
    Sengahor, Ryosuke ; Pichlerhor, Thomas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 413-414
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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