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Design Criteria of High-Temperature Integrated Circuits Using Standard SOI CMOS Process up to 300°C.In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 57236-57249academicJournalZugriff:
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In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 61556-61567academicJournalZugriff:
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In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 57424-57442academicJournalZugriff:
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In: IEEE J. Solid State Circuits, Jg. 59 (2024), Heft 5, S. 1398-1408academicJournalZugriff:
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In: IEEE J. Solid State Circuits, Jg. 59 (2024), Heft 5, S. 1301-1311academicJournalZugriff:
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In: IEEE Trans. Circuits Syst. II Express Briefs, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 1819-1823academicJournalZugriff:
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In: IEEE Trans. Circuits Syst. II Express Briefs, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 1949-1953academicJournalZugriff:
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In: IEEE Trans. Circuits Syst. II Express Briefs, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 1964-1968academicJournalZugriff:
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In: IEEE Trans. Circuits Syst. II Express Briefs, Jg. 71 (2024), Heft 4, S. 1884-1888academicJournalZugriff:
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In: J. Circuits Syst. Comput., Jg. 33 (2024), Heft 4, S. 1-17academicJournalZugriff:
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In: J. Circuits Syst. Comput., Jg. 33 (2024), Heft 7, S. 1-16academicJournalZugriff:
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In: J. Circuits Syst. Comput., Jg. 33 (2024), Heft 4, S. 1-15academicJournalZugriff:
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In: IEEE Trans. Ind. Informatics, Jg. 20 (2024), Heft 4, S. 6130-6141academicJournalZugriff:
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In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 49528-49534academicJournalZugriff:
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In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 44115-44124academicJournalZugriff: