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    Misalignment tolerance improvement and high efficiency design for wireless power transfer system based on DDQ-DD coil.
    Liu, Yicheng ; Zhang, Junwei
    In: Int. J. Circuit Theory Appl., Jg. 52 (2024), Heft 1, S. 111-128
    academicJournal
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    DDQ-APUF: A Highly Reliable Arbiter PUF Using Delay Difference Quantization.
    Mei, Xue ; Zhang, Guangyang ; et al.
    In: AsianHOST, 2023, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    DDQ: Collaborating Against Common DNS-Resolver-based Trackers.
    Wang, Can ; Zhang, Hui ; et al.
    In: ICCT, 2023, S. 1325-1329
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Defect Screening Using Independent Component Analysis on I_DDQ.
    Turakhia, Ritesh P. ; Benware, Brady ; et al.
    In: VTS, 2005, S. 427-432
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Distributed Digitized Delay Queueing (DDQ) for Large Scale QoS Router.
    Kim, Kicheon
    In: PDPTA, 2004, S. 1183-1190
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    I_DDQ Test Method Based on Wavelet Transformation for Noisy Current Measurement Environment.
    Hashizume, Masaki ; Yoneda, Daisuke ; et al.
    In: Asian Test Symposium, 2004, S. 112-117
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Built-in Current Sensor for ?I{DDQ} Testing of Deep Submicron Digital CMOS ICs.
    Josep Rius Vázquez ; José Pineda de Gyvez
    In: VTS, 2004, S. 53-58
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    FPGA Bridging Fault Detection and Location via Differential I{DDQ}.
    Chmelar, Erik ; Toutounchi, Shahin
    In: VTS, 2004, S. 109-116
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    On Comparison of NCR Effectiveness with a Reduced I{DDQ} Vector Set.
    Sabade, Sagar S. ; Walker, D. M. H.
    In: VTS, 2004, S. 65-72
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS Floating Gate Defect Detection Using I DDQ Test with DC Power Supply.
    Michinishi, Hiroyuki ; Yokohira, Tokumi ; et al.
    In: Asian Test Symposium, 2002, S. 417-422
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Test Time Reduction for I DDQ Testing by Arranging Test Vectors.
    Yotsuyanagi, Hiroyuki ; Hashizume, Masaki ; et al.
    In: Asian Test Symposium, 2002, S. 423-428
    Konferenz
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    Neighbor selection for variance reduction in I_DDQ and other parametric data.
    W. Robert Daasch ; Cota, Kevin ; et al.
    In: ITC, 2001, S. 92-100
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The future of delta I_DDQ testing.
    Kruseman, Bram ; Rudger van Veen ; et al.
    In: ITC, 2001, S. 101-110
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Improved wafer-level spatial analysis for I_DDQ limit setting.
    Sabade, Sagar S. ; Walker, D. M. H.
    In: ITC, 2001, S. 82-91
    Konferenz
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    A practical built-in current sensor for I_DDQ testing.
    Kim, Hoki ; Walker, D. M. H. ; et al.
    In: ITC, 2001, S. 405-414
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Multiple-parameter CMOS IC testing with increased sensitivity for I_DDQ.
    Keshavarzi, Ali ; Kaushik Roy 0001 ; et al.
    In: ITC, 2000, S. 1051-1059
    Konferenz
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    DECOUPLE: defect current detection in deep submicron I_DDQ.
    Okuda, Yukio
    In: ITC, 2000, S. 199-206
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Variance reduction using wafer patterns in I_ddQ data.
    W. Robert Daasch ; McNames, James ; et al.
    In: ITC, 2000, S. 189-198
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Current ratios: a self-scaling technique for production I_DDQ testing.
    Maxwell, Peter C. ; O'Neill, Pete ; et al.
    In: ITC, 1999, S. 738-746
    Konferenz
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    Eliminating the Ouija board: automatic thresholds and probabilistic I_DDQ diagnosis.
    Lavo, David B. ; Larrabee, Tracy ; et al.
    In: ITC, 1999, S. 1065-1072
    Konferenz
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