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    Cryogenic characterization of 180 nm CMOS technology at 100 mK
    Huang, RG ; Gnani, D ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-06-01), Heft 06
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Design and performance of a custom ASIC digitizer for wire chamber readout in 65 nm CMOS technology
    Lee, MJ ; Brown, DN ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-06-01), Heft 06
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design and performance of a custom ASIC digitizer for wire chamber readout in 65 nm CMOS technology
    Lee, MJ ; Brown, DN ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-06-01), Heft 6
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    A gigabit transceiver for the ATLAS inner tracker pixel detector readout upgrade
    Chen, C ; Wallangen, V ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-07-01), Heft 07
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    LArPix: Demonstration of low-power 3D pixelated charge readout for liquid argon time projection chambers
    Dwyer, DA ; Garcia-Sciveres, M ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-10-02), Heft 10
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    LArPix: demonstration of low-power 3D pixelated charge readout for liquid argon time projection chambers
    Dwyer, DA ; Garcia-Sciveres, M ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-10-01), Heft 10
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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