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    8T-SRAM Cell with Improved Read and Write Margins in 65 nm CMOS Technology
    Moradi, Farshad ; Tohidi, Mohammad ; et al.
    In: $2; (2015)
    Buch
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VSLI circuits
    Sachdev, M. ; Pineda de Gyvez, J.
    In: $2; (2007)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Interfacing reversible pass-transistor CMOS chips with conventional restoring CMOS circuits
    Burignat, Stéphane ; Thomsen, Michael Kirkedal ; et al.
    In: $2, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Fully integrated FBAR sensor matrix for mass detection
    Tukkiniemi, Kari ; Rantala, Arto ; et al.
    In: $2, 2009
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
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    Fast Control for Reversible Processors
    Mogensen, Torben Aegidius ; Mezzina, CA ; et al.
    In: $2, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    “To Him Who Has, More Will Be Given…”:A Realist Review of the OHSAS18001 Standard of OHS Management
    Madsen, Christian Uhrenholdt ; Kirkegaard, Marie Louise ; et al.
    In: $2, 2018
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Exploring Energy Efficiency of Lightweight Block Ciphers
    Banik, Subhadeep ; Bogdanov, Andrey ; et al.
    In: $2, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Improved bounds for speed scaling in devices obeying the cube-root rule
    Bansal, N. ; Chan, H.L. ; et al.
    In: $2, 2009
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
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